Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai F20 #9375418 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai F20 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochwertiges wissenschaftliches Instrument, das es Forschern ermöglicht, hochauflösende Bilder von Proben in einer Vielzahl von Umgebungen zu erhalten. Der F20 ist mit einer fortschrittlichen 5-Achsen-Tracking-Ausrüstung ausgestattet, die präzise und präzise Probenbewegungen ermöglicht und hochauflösende Bildgebungsfunktionen ermöglicht. Darüber hinaus ist das Gerät mit einem Hochleistungs-Gatan-SFEG-Detektor ausgestattet, der über eine Vielzahl von Vergrößerungen einen hervorragenden Kontrast und eine hervorragende Auflösung bietet. Der F20 ist mit einer vielseitigen, doppelt geneigten, 10-positionierten Probenstufe ausgelegt, um die größte Flexibilität in der Bildgebung von Proben zu ermöglichen. Die Probenstufe soll Proben mit einem Durchmesser von bis zu 100 mm und einem Gewicht von 3 kg unterstützen. Das 5-Achsen-Tracking-System stellt sicher, dass die Probenstufe vollständig auf die Probe ausgerichtet ist, um eine präzise und genaue Abbildung zu ermöglichen. Der F20 kann mit einer maximalen Anodenspannung von 20 kV betrieben werden, was einen hervorragenden Kontrast und eine hervorragende Auflösung bietet. Die F20 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die eine erhöhte Auflösung und höhere Stabilität bietet. Die Elektronenquelle ermöglicht die Erzeugung von Bildern auf nahezu atomarer Ebene, während eine Reihe von Detektoroptionen es Forschern ermöglichen, zwischen hellem Feld, dunklem Feld und Bildgebung von Materialien in verschiedenen Dicken und chemischen Zusammensetzungen zu wählen. Das F20 bietet auch eine Reihe von digitalen Bildgebungsfunktionen, einschließlich monochromer Bildgebung, optischem Zoom und Farbbildgebung. Das Gerät unterstützt auch eine Reihe von bildgebenden Techniken, wie rückgestreute Elektronenbildgebung und energiefilterte Bildgebung, die Forschern helfen können, Einblick in komplizierte Strukturen zu gewinnen. Um eine einfache und sichere Bedienung zu gewährleisten, verfügt das F20 über eine Schallschutzhaube und einen Hubtisch sowie eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen wie einen automatisierten Sicherheitsschalter und eine Sicherheitsabgasanlage. Darüber hinaus ist die Maschine mit einem komfortablen Bedienfeld ausgestattet, das einen schnellen und effizienten Betrieb ermöglicht. FEI Tecnai F20 Scanning Electron Microscope ist ein fortschrittliches High-End-Instrument, das Forschern hochauflösende Bilder von Materialien in nahezu atomarer Auflösung bietet. Mit seinem vielseitigen Design, seinem breiten Spektrum an bildgebenden Funktionen und Sicherheitsmerkmalen ist der F20 ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.