Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai F30 #293607314 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai F30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das mit einer Feldemissionskanone (FEG) einen hochauflösenden und hochwertigen Elektronenstrahl erzeugt. Dieses anspruchsvolle Instrument ist in der Lage, eine breite Palette von Proben abzubilden, einschließlich biologischer Proben wie Zellen, Proteine und Metalle verschiedener Dicken und Zusammensetzungen. Auch spezielle Abbildungsmodi wie rückgestreute Elektronenbildgebung und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) können eingesetzt werden, um wichtige strukturelle Details aufzudecken. FEI F30 verwendet eine thermionische FEG-Elektronenquelle, um einen hochauflösenden Elektronenstrahl zu erzeugen. Die Konstruktion dieser FEG-Pistole nutzt die Tatsache, dass Elektronen von den scharfen Spitzen von Fadenkathoden emittiert werden, wenn eine Spannung angelegt wird. Der resultierende Elektronenstrahl hat einen sehr niedrigen Strom und eine geringe Punktgröße für die hochauflösende Bildgebung. Diese Elektronenquelle kann mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV mit einer Auflösung von 2,0 nm bei einem Arbeitsabstand von 10 mm betrieben werden. PHILIPS TECNAI F 30 verfügt auch über eine Umweltprobenkammer, die mit einem eingebauten Stufenkühlsystem verwendet werden kann, um Proben während der Bildgebung bei optimalen Temperaturen zu halten. Dieses System eignet sich zur Abbildung biologischer Proben wie Zellen und Proteine ohne zusätzliches Vakuumsystem. Die Probenkammer ist auch mit einer automatisierten XYZ-Achse ausgestattet, die es ermöglicht, großflächig zu scannen, sowie eine Vielzahl von Linsen für unterschiedliche Vergrößerungsgrade. FEI TECNAI F 30 bietet eine Reihe von bildgebenden Modi, die verwendet werden können, um wesentliche Informationen über Proben zu gewinnen. Rückgestreute Elektronenbildgebung (BSE) kann verwendet werden, um atomare Bilder der Oberflächenstruktur zu erfassen, während die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) eine detaillierte Analyse der chemischen Zusammensetzung einer Probe liefern kann. Dieses Instrument bietet auch eine Reihe von automatisierten Ultra-High-Vakuum-Verarbeitungsoptionen, einschließlich Sputterbeschichtung und E-Beam-Lithographie. Zusammengefasst bieten die Funktionen von FEI Tecnai F30 eine robuste und vielseitige SEM-Lösung für den Erwerb hochauflösender Bildgebung, um eine Reihe von Proben zu untersuchen. Dieses Rasterelektronenmikroskop kann für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich Zellbildgebung für medizinische Forschung, materialwissenschaftliche Studien, Halbleiterbauelementherstellung und Fehleranalyse.