Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9195579 zu verkaufen

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ID: 9195579
Transmission Electron Microscope (TEM) Field Emission Gun (FEG) High voltage: 300 kV Super twin lens Emitter: Schottky HRTEM (Spatial resolution: 0.18 nm) STEM (Spatial resolution: 0.20 nm) Convergent Beam Diffraction (CBM) Single tilt specimen holder Normal double tilt holder Low background double tilt holder Nanoindenter / STM Holder Camera / Detectors: High energy resolution X-ray SDD detector CCD GATAN US4000 Ultrascan Pixels: 4K x 4K 14-Bits EFTEM GATAN GIF: Energy resolution: 1.2 eV EDX EDAX: Collection angle: 0.1 srad Energy resolution: 136 eV HT-Tank 300kV FEG-EMC.
PHILIPS/FEI Tecnai F30 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges Mikroanalyse-Tool für Forscher in einer Vielzahl von Disziplinen. Dieses Mikroskop verfügt über ein fortschrittliches elektronenoptisches System, das eine Reihe von Innovationen kombiniert, um die höchste Leistung in der Bildgebung und Charakterisierung zu bieten. Herzstück des Systems ist eine Feldemissionselektronenkanone, die einen energiereichen, hochfokussierten Strahl erzeugt. Dies ermöglicht die höchste erreichbare seitliche Auflösung, eine außergewöhnliche Schärfentiefe und einen hervorragenden Kontrast zwischen Linienpaaren. Das Säulendesign ist bestrebt, sowohl chromatische als auch sphärische Aberration mit einer großen Fokustiefe und überlegener Kontrastübertragungsfunktion (CTF) zu minimieren. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über einen erweiterten InLens-Detektor. Dieser Detektor erfasst Elektronen ohne Refokussierung und bietet eine zusätzliche Empfindlichkeit und Genauigkeit. Dies macht es eine ideale Wahl sowohl für hohe Vergrößerung Bildgebung und Analyse von großen Flächen. FEI F30 ist zudem mit einem neu entwickelten Halbleiterdetektor ausgestattet, der eine sehr vielseitige Bildgebung ermöglicht. Dieser Detektor ist in der Lage, niederenergetische Elektronen zu erfassen und gleichzeitig die Fähigkeit beizubehalten, verschiedene Elemente innerhalb einer Probe zu unterscheiden. Es ist eine gute Wahl für die Analyse von dünnen Filmen, wegen seiner High-Speed-Bildgebungsfunktionen. Darüber hinaus kann das Mikroskop mit einer Vielzahl von Detektoren, wie Röntgendetektoren, Elektronenrückstreudetektoren und hochwinkligen ringförmigen Dunkelfelddetektoren, zur weiteren Erweiterung seiner Fähigkeiten eingesetzt werden. Diese Techniken sind hilfreich für verschiedene Aufgaben wie hochauflösende Elementaranalysen und Oberflächenrekonstruktionen. PHILIPS TECNAI F 30 verfügt zudem über eine hohe Beschleunigungsspannung und einen langen Arbeitsweg. Diese Kombination macht das Mikroskop zu einer ausgezeichneten Wahl für die Bildgebung mit einer höheren Schärfentiefe, die eine größere Klarheit von der Probe ermöglicht. F30 ist somit eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von analytischen und bildgebenden Anwendungen.
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