Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9224715 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai F30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bilder von Proben mit einer maximalen Vergrößerung von bis zu 400.000x und einer Auflösung von 1,0 Nanometern zu erzeugen. Ausgestattet mit einem Vakuumsystem ist es in der Lage, die Probe innerhalb von Sekunden abzubilden und eignet sich sowohl für die Abbildung statischer als auch dynamischer Prozesse. FEI F30 verfügt über eine Feldemissionselektronenkanone, die Elektronenstrahlen mit hoher Helligkeit und geringer Divergenz für eine optimale Bildgebung erzeugt. PHILIPS TECNAI F 30 bietet drei Scanvergrößerungen, Standard, niedrig und sehr hoch, um hervorragenden Kontrast und Auflösung für eine Vielzahl von Proben zu bieten. Das gesamte Sichtfeld reicht von 0,6 mm bis 20 mm, so dass große Probenflächen schnell und präzise abgebildet werden können. Eine einzigartige Palette von Scan-Geschwindigkeiten ist verfügbar, um hochauflösende Bilder zu produzieren, ohne die Genauigkeit der Datenpunkte zu beeinträchtigen. PHILIPS/FEI F30 verwendet einen automatisierten bildgebenden Workflow, der eine effiziente Probenvorbereitung und -beobachtung ermöglicht. Für die Abbildung von Nanomaterialien unterstützt Tecnai F30 mehrere automatisierte Ausrichtungs- und Navigationsfunktionen, einschließlich 360 ° Advanced Helical Scanning. Für die einfache Navigation der Probe steht ein externer Stufenlaufbereich von 70mm Höhe und 200mm Breite zur Verfügung. PHILIPS Tecnai F30 verfügt über mehrere Abbildungsmodi, darunter Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen, reflektierte Elektronen und panchromatische Bildgebung. Es ist auch in der Lage, topographische und elementare Oberflächenabbildungen mit dem integrierten EDX-System zu messen. Mit seiner großzügigen Probenkammer kann PHILIPS F30 Proben von bis zu 175 mm Durchmesser und bis zu 80 mm Höhe aufnehmen. FEI TECNAI F 30 ist mit erweiterten Bildgebungsfunktionen ausgestattet, so dass Benutzer ihre Bilder anpassen und Anmerkungen hinzufügen können. Die automatisierte rückgestreute Elektronenbildgebung kann zur Herstellung von 3D-Bildern verwendet werden, und die Photostitch-Bildgebung bietet die Möglichkeit, Panoramabilder zu erstellen. PHILIPS/FEI TECNAI F 30 unterstützt auch Analyse-Tools wie Bildvergleich und Partikelanalyse, um mögliche Fehler in der Probe schnell zu identifizieren. FEI Tecnai F30 bietet maximale Leistung mit Flexibilität und Skalierbarkeit, um den Anforderungen verschiedener bildgebender Aufgaben gerecht zu werden. Die Robustheit von TECNAI F 30 gewährleistet eine zuverlässige Bedienung und sorgt mit Funktionen wie automatisiertem Fernzugriff und intuitiver Benutzeroberfläche für ein zuverlässiges System für hochauflösende Bildgebung.