Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai F30 #9277568 zu verkaufen

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PHILIPS / FEI Tecnai F30
Verkauft
ID: 9277568
System Gun FEG Accelerator Outer vessel 300 kV TEM System: Compustage TEM Rack STEM Rack HT Tank HT Cable Water rack Hand panel L, USB Hand panel R, USB, trackball TMP Controller ODP System Dual monitor Low back ground double tilt holder Loading tool EDWARD RV3 Vacuum pump Detector: GATAN 894 CCD Camera Water flow meter Water tube HAADF Stem detector Personal Computer (PC): Super micro TEM PC PCI6110 For STEM 5 Ports LAN card Dual monitor card Key board Mouse Utilities: Main chiller Air compressor No objective lens chiller No service tool box No bake out tool No EDS.
Das PhillipsPHILIPS/FEI Tecnai F30 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein einzigartiges und leistungsstarkes Instrument für die Materialanalyse. Es wurde entwickelt, um hervorragende Oberflächentopographiebilder, hochauflösende elementare kompositorische Analysen und schnelle und zuverlässige Probenabtastung bereitzustellen. Dieses vielseitige Mikroskop bietet Subnanometer-Auflösungsbilder, die mit variablem Druck oder variabler Winkelabbildung in Echtzeit beobachtet werden können. Es ist mit einer Kaltfeld-Emissionskanone ausgestattet, die eine minimale Elektronenleckage und geringe Probenkontamination ermöglicht. Dies ist ideal für den Einsatz mit harten und hohen Seitenverhältnisproben. Das System verfügt zudem über eine „Smart Mobility“ -Musterbehandlungslösung, die einen schnellen und effizienten Probenaustausch ermöglicht. Probenvorbereitung und Bilderfassung ist sehr effizient und kann Benutzern genaue Bilder in Minuten zur Verfügung stellen. FEI F30 ist mit fortschrittlicher digitaler und analoger Elektronik und ausgefeilter Software ausgestattet, um Ihre Bildgebungsfunktionen zu optimieren. Die vielseitigen Softwarepakete ermöglichen die Erfassung, Anpassung und Verfolgung von Strahleinstellungen für verschiedene Abbildungsparameter. Sowie, verschiedene Modi zur Verfügung für; Multishot und progressiver Scan, Bildgebung mit hoher Vergrößerung, Scanmaterialien, Betrieb frei beweglicher Elektronen und Analyse des Neigungswinkels. PHILIPS TECNAI F 30 verfügt über den einzigartigen „EasyTEM“ -Modus, der die Grundlagen der Bedienung vereinfacht, indem er den Betreibern die Möglichkeit bietet, je nach Art der benötigten Probendaten einfach vordefinierte Abbildungsbedingungen zu wählen. FEI TECNAI F 30 kombiniert zuverlässige Leistung und benutzerfreundliche Steuerung, so dass es die ideale Wahl für eine breite Palette von wissenschaftlichen Anwendungen. Dieses Mikroskop ist ein unschätzbares Werkzeug für die Materialwissenschaft, da es detaillierte Informationen über die physikalischen und chemischen Eigenschaften von Probenmaterialien liefert. Sein zuverlässiges und flexibles Design macht es zu einer attraktiven Option für Studenten, Forscher und Praktiker auf dem Gebiet.
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