Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 UT D214 #293607886 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214 ist ein Dual-Strahl-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Bildgebungs- und Charakterisierungsanwendungen. Dieses vielseitige Mikroskop wurde entwickelt, um beispiellose visuelle Auflösung und analytische Fähigkeiten in der akademischen, industriellen und Materialforschung zu bieten. FEI Tecnai G2 F20 UT D214 nutzt eine beeindruckende Sammlung von bildgebenden und analytischen Technologien, darunter ein großes Sichtfeld und integrierte FIB/ESEM-Fähigkeiten. Die erweiterten Rasterfähigkeiten dieses Mikroskops werden durch den hochauflösenden Schottky-Emitter und die kryogen gekühlte Hochdurchsatz-Elektronenquelle ermöglicht. Dies hilft, eine hochauflösende Abbildung der Probentopographie in einem großen Sichtfeld zu ermöglichen. Die Vergrößerung reicht von 5x bis zu 2.000.000x und ermöglicht eine Vielzahl mikroskopischer Bildaufgaben. Darüber hinaus sind erweiterte bildgebende Funktionen wie variable Druckabbildung, variable Drucktomographie, 3D-Röntgenaufnahmen und große Probenkammerhandhabung leicht verfügbar. Die integrierten FIB/ESEM-Fähigkeiten von PHILIPS Tecnai G2 F20 UT D214 sind für die Materialprüfung unerlässlich. Seine DualBeam™ Technologie ermöglicht die Abbildung von Proben mit hoher Auflösung und die interaktive Entfernung von Material für die Nanoanalyse. Die DLAN-Elektronenstrahl-Lithographie des Mikroskops ermöglicht auch das direkte Schreiben von Materialmustern und Strukturen auf Oberflächen, was den Forschern eine robustere Kontrolle der Charakterisierungen ermöglicht. Tecnai G2 F20 UT D214 bietet auch erweiterte analytische Fähigkeiten, einschließlich fortschrittliche Energie und Wellenlängen dispersive Spektroskopie (EDS/WDS). Auf diese Weise können Anwender Elementaranalysen durchführen und Phasen von Proben identifizieren. Elemente können mit hoher Genauigkeit und in unterschiedlichen Konzentrationen identifiziert werden. Darüber hinaus sorgen die Satellitendetektoren am Instrument für eine beispiellose Präzision und eine erhöhte Geschwindigkeit sowohl für EDS als auch für WDS. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 UT D214 ein unübertroffenes Rasterelektronenmikroskop, das verwendet wird, um eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Aufgaben zu erfüllen. Sein einheitlicher DualBeam™ und FIB/ESEM-Fähigkeiten berücksichtigen, dass fortgeschrittene Topografie darstellt, während seine Energie/Wellenlänge dispersive Spektroskopie elementare Analyse und Identifizierung berücksichtigt. Mit seinen hochauflösenden Scanfunktionen und robusten analytischen Funktionen ist FEI Tecnai G2 F20 UT D214 eine vielseitige Wahl für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.