Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293802955 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das den anspruchsvollen Anforderungen moderner Forschung und industrieller Anwendungen gerecht wird. Dieses hochmoderne Instrument bietet außergewöhnliche bildgebende Fähigkeiten, analytische Merkmale und benutzerfreundliche Bedienung und ist somit ideal für eine breite Palette von Nanotechnologie, Materialwissenschaft, Life Science und Halbleiterforschung. Herzstück von FEI Tecnai G2 F20 ist eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die hohe Helligkeit und Stabilität für überlegene Bildauflösung und analytische Leistung bietet. Das FEG erzeugt einen fein fokussierten Elektronenstrahl mit kleiner Sondengröße, der eine hochauflösende Abbildung von Proben auf nanoskaliger Ebene ermöglicht. Dies macht PHILIPS Tecnai G2 F20 gut geeignet für die Abbildung einer Vielzahl von Materialien, darunter biologische Proben, Nanomaterialien, Polymere und Halbleiter. Tecnai G2 F20 zeigt eine Hochleistungsweise der Übertragungselektronmikroskopie (TEM), Benutzern erlaubend, sowohl SEM als auch TEM durchzuführen, der auf derselben Plattform darstellt. Diese duale Funktionalität bietet Forschern einen umfassenden Satz von bildgebenden Fähigkeiten für die Untersuchung der Mikrostruktur und Zusammensetzung von Proben mit beispiellosen Details. Das Gerät ist auch mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor für die Elementaranalyse ausgestattet, mit dem Anwender die chemische Zusammensetzung von Materialien mit hoher Empfindlichkeit und räumlicher Auflösung identifizieren und quantifizieren können. Neben Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 fortschrittliche Techniken zur Probenmanipulation und Charakterisierung. Das Gerät ist mit einer motorisierten Bühne ausgestattet, die eine präzise Probenpositionierung und -navigation ermöglicht, so dass Benutzer bestimmte Bereiche von Interesse auf der Probe leicht lokalisieren und analysieren können. FEI Tecnai G2 F20 verfügt auch über In-situ-Heiz- und Kühlstufen sowie Gaseinspritzsysteme zur Untersuchung des Probenverhaltens unter kontrollierten Umgebungsbedingungen. Benutzerfreundliche Software-Oberfläche und intuitive Bedienelemente machen die Bedienung von PHILIPS Tecnai G2 F20 einfach und effizient. Das Instrument ist mit einer Reihe von automatisierten Bildgebungs- und Analysefunktionen ausgestattet, wie automatisierte Fokussierung, Astigmatismuskorrektur und Strahlneigungsanpassung, um die Datenerfassung zu optimieren und die Produktivität zu steigern. Die Software Tecnai G2 F20 umfasst auch erweiterte Bildverarbeitungs- und Analysetools für die Bildvisualisierung, Dateninterpretation und Berichtsgenerierung. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20 ein modernes Rasterelektronenmikroskop, das außergewöhnliche bildgebende Auflösung, analytische Leistung und betriebliche Flexibilität für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen bietet. Seine erweiterten Fähigkeiten, seine benutzerfreundliche Oberfläche und seine vielseitige Funktionalität machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug zur Bewältigung komplexer wissenschaftlicher Fragen und zur Weiterentwicklung unseres Verständnisses der nanoskaligen Welt.