Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #293604851 zu verkaufen
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ID: 293604851
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das extreme bildgebende Auflösung mit einer Vielzahl von Optionen zur Rationalisierung der SEM-Nutzung kombiniert. Um eine maximale Bildauflösung zu erzielen, ist FEI Tecnai G2 F30 Twin mit einem In-Linsen- und In-Column Backscattered Electron (BSE) Detektor, einem Everhart-Thornley Point Detektor, einem vierfachen Sekundärelektronendetektor, einer Mittelenergie Backscatter (matter) ausgestattet. PHILIPS Tecnai G2 F30 Twin verfügt auch über einen Mehrzweck-Probenhalter mit bis zu 8 Proben, eine nicht-magnetische Pipette, ein PixelPro-Probenorientierungssystem, das Proben-Parameter automatisch erkennt, einen doppelten Neigungshalter und eine Reihe von Zubehör, um Flexibilität zu ermöglichen. Darüber hinaus ist mit diesem SEM auch die stets vielseitige Kryotransfertechnik möglich. Tecnai G2 F30 Twin wird auch mit integrierter automatisierter Bildanalysesoftware geliefert. Diese Software kann verwendet werden, um komplexe SEM-Bilder zu analysieren, und verfügt über Bildmaterial, Bildoperationen, manuelle und automatisierte Kornzählung sowie Algorithmen zur Mustererkennung. Darüber hinaus ist PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin mit einem einstellbaren Quellengenerator ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, Strahlparameter wie Beschleunigungsspannung und Strom einzustellen und zu überwachen. Dieser einstellbare Quellengenerator verfügt auch über innovative Steuerungsalgorithmen, die es dem Benutzer ermöglichen, die zeitliche Exposition unter Millisekunden leicht anzupassen, um vorübergehende Ereignisse zu erfassen, die normalerweise zu schnell wären, um sie zu erkennen. FEI Tecnai G2 F30 Twin ist wirklich eines der leistungsstärksten SEMs auf dem Markt heute. Mit seiner hochentwickelten Technologie und integrierten Automatisierungslösungen bietet der G2 F30 Twin unglaubliche Bildqualität, Partikelanalysefunktionen, Flexibilität bei der Verwendung und automatisierte Bildanalysesoftware. Es ist das perfekte Werkzeug für jedes Labor, das nach einer zuverlässigen und intuitiven SEM-Lösung sucht.
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