Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #9376693 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9376693
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Zwilling ist eine Hochleistungsfeldemission, Elektronmikroskop (FE-SEM) scannend, der für Nanoskalabildaufbereitungsanwendungen in der Forschung und Industrie verwendet ist. Es verfügt über eine fortschrittliche Feldemissionsquelle, die einen hohen Durchsatz und kurze Zykluszeiten für Benutzer ermöglicht und es zu einem der leistungsstärksten Instrumente seiner Klasse macht. Die G2- F30 hat eine hohe Auflösung von 0,7 nm und einen Arbeitsabstand von 30,0 Millimetern und bietet eine Vergrößerung von 5x bis 300000x. Es bietet sowohl Hoch- als auch Niedrigvakuum-Modi für eine Reihe von Anwendungen wie Bildgebung, Partikelgrößenanalyse und Zusammensetzungsanalyse. Die Mikroskope verwenden eine große Anzahl von Detektoren, um eine breite Palette von Merkmalen aus verschiedenen Bereichen von Interesse zu erfassen. Seine fortschrittliche Scan-Technologie ermöglicht die Erfassung hochauflösender Bilder mit einer kostengünstigen digitalen Videokamera. Das System ist mit einer Vielzahl von automatisierten Bildverarbeitungsfunktionen ausgestattet, wie MEBES-Schichtproduktion, digitale Analyse und Bildnähte. Das G2 F30 verfügt über eine voll integrierte Neigungs-/Drehstufe, die eine präzise Positionierung von Proben in beliebigen Neigungs- oder Drehwinkeln ermöglicht. Das Instrument umfasst ein automatisiertes Softwarepaket zur Aufbereitung und Präsentation von Daten sowie eine Reihe von Hardwarefunktionen, die an die spezifischen Anforderungen des Benutzers angepasst werden können. Das G2- F30 bietet eine hohe erweiterte Benutzerfreundlichkeit mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, die die Bedienung und die automatische Probenerkennung vereinfacht. Seine Palette von Scan- und Bildgebungsmodi bieten Anwendern eine überlegene Bildqualität und -kontrolle. Dieses Mikroskop bietet auch fortschrittliche Systeme zur Strahlenergiesteuerung und innovative Softwarepakete, die eine vollständige Kontrolle des Probenvorbereitungsprozesses ermöglichen. Das macht den G2 F30 zu einem leistungsstarken Werkzeug für nanoskalige Bildgebung und Forschung.
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