Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #9376693 zu verkaufen

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ID: 9376693
Transmission Electron Microscope (TEM) STEM System for FEG Scanned imaging technique FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector Detector: 30 mm Window PC EDX Spectroscopy technique Low-dose exposure technique and performance test Xplore3D (Tomography except STEM tomo) GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD With U-type coating for ultrasensitivity Power: 300 kV GATAN Quantum GIF 963 Energy filter With CCD: 2000 x 2000 Energy filter embedding EFTEM EELS Module CCD Camera embedding Accessory cabinet 33U, 19'' TEM Scripting Free lens control TEM Auto-adjust TEM Auto-gun LCD Monitor, 20" Anti-contaminator Nitrogen cooled with Be blades for TEM JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Zwilling ist eine Hochleistungsfeldemission, Elektronmikroskop (FE-SEM) scannend, der für Nanoskalabildaufbereitungsanwendungen in der Forschung und Industrie verwendet ist. Es verfügt über eine fortschrittliche Feldemissionsquelle, die einen hohen Durchsatz und kurze Zykluszeiten für Benutzer ermöglicht und es zu einem der leistungsstärksten Instrumente seiner Klasse macht. Die G2- F30 hat eine hohe Auflösung von 0,7 nm und einen Arbeitsabstand von 30,0 Millimetern und bietet eine Vergrößerung von 5x bis 300000x. Es bietet sowohl Hoch- als auch Niedrigvakuum-Modi für eine Reihe von Anwendungen wie Bildgebung, Partikelgrößenanalyse und Zusammensetzungsanalyse. Die Mikroskope verwenden eine große Anzahl von Detektoren, um eine breite Palette von Merkmalen aus verschiedenen Bereichen von Interesse zu erfassen. Seine fortschrittliche Scan-Technologie ermöglicht die Erfassung hochauflösender Bilder mit einer kostengünstigen digitalen Videokamera. Das System ist mit einer Vielzahl von automatisierten Bildverarbeitungsfunktionen ausgestattet, wie MEBES-Schichtproduktion, digitale Analyse und Bildnähte. Das G2 F30 verfügt über eine voll integrierte Neigungs-/Drehstufe, die eine präzise Positionierung von Proben in beliebigen Neigungs- oder Drehwinkeln ermöglicht. Das Instrument umfasst ein automatisiertes Softwarepaket zur Aufbereitung und Präsentation von Daten sowie eine Reihe von Hardwarefunktionen, die an die spezifischen Anforderungen des Benutzers angepasst werden können. Das G2- F30 bietet eine hohe erweiterte Benutzerfreundlichkeit mit einer intuitiven Benutzeroberfläche, die die Bedienung und die automatische Probenerkennung vereinfacht. Seine Palette von Scan- und Bildgebungsmodi bieten Anwendern eine überlegene Bildqualität und -kontrolle. Dieses Mikroskop bietet auch fortschrittliche Systeme zur Strahlenergiesteuerung und innovative Softwarepakete, die eine vollständige Kontrolle des Probenvorbereitungsprozesses ermöglichen. Das macht den G2 F30 zu einem leistungsstarken Werkzeug für nanoskalige Bildgebung und Forschung.
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