Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 #293770697 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Bildgebung und Analyse von Materialien auf nanoskaliger Ebene. Dieses anspruchsvolle Instrument beinhaltet modernste Technologie, um Forschern die Möglichkeit zu bieten, eine breite Palette von Proben mit außergewöhnlicher Auflösung und Details zu erforschen und zu charakterisieren. FEI Tecnai G2 F30 verfügt über eine Feldemissionselektronenquelle, die einen hochfokussierten, stabilen Elektronenstrahl zur Bildgebung und Analyse erzeugt. Dies ermöglicht feine Bildgebungsfunktionen bei hohen Vergrößerungsgraden, so dass Benutzer Proben mit ultrahoher Auflösung und Klarheit visualisieren können. Das Mikroskop ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, einschließlich Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und energiedispersiven Röntgendetektoren, die eine umfassende Probencharakterisierung durch bildgebende und chemische Analyse ermöglichen. Eines der Hauptmerkmale von PHILIPS Tecnai G2 F30 ist seine erhöhte Beschleunigungsspannung von bis zu 300 kV, die eine energiereiche Bildgebung und Analyse von Proben mit erhöhter Eindringtiefe und -kontrast ermöglicht. Damit eignet sich das Mikroskop ideal für die Untersuchung unterschiedlichster Materialien wie Metalle, Halbleiter, Keramik, Polymere und biologische Proben. Die Hochspannungsfähigkeit ermöglicht auch fortschrittliche Analysetechniken wie elementares Mapping und kompositorische Analyse mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS). Tecnai G2 F30 ist mit fortschrittlichen Bildverarbeitungsmodi ausgestattet, mit denen Benutzer detaillierte Bilder von Probenoberflächen, Schnittstellen und Strukturen erfassen können. Das Mikroskop unterstützt die Bildgebung der Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM) und bietet eine Subnanometer-Auflösung für die Untersuchung einzelner Atome und Kristallstrukturen. Darüber hinaus verfügt das Instrument über spezielle Bildgebungstechniken wie hochwinklige ringförmige Dunkelfeldbildgebung (HAADF) und ringförmige Hellfeldbildgebung (ABF), die einen verbesserten Kontrast und eine verbesserte Empfindlichkeit für die Abbildung von Nanostrukturen und Defekten bieten. Neben der hochauflösenden Bildgebung bietet PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 erweiterte analytische Möglichkeiten zur Charakterisierung der Zusammensetzung und Eigenschaften von Materialien. Das Mikroskop ist in der Lage, eine Elementaranalyse durch EDS durchzuführen, die es Anwendern ermöglicht, die in einer Probe vorhandenen chemischen Elemente zu identifizieren und zu quantifizieren. Das Instrument unterstützt auch die Elektronenenergieverlust-Spektroskopie (EELS) und ermöglicht es Forschern, die elektronischen und optischen Eigenschaften von Materialien auf nanoskaliger Ebene zu untersuchen. FEI Tecnai G2 F30 ist mit benutzerfreundlichen Software-Schnittstellen konzipiert, die eine effiziente Bedienung und Datenanalyse ermöglichen. Das Mikroskop verfügt über integrierte Bildgebungs- und Analysesoftware zur Steuerung von Instrumentenparametern, zur Erfassung von Bildern und zur Verarbeitung von Daten. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es Forschern, Bildgebungseinstellungen einfach anzupassen, die Probe zu navigieren und quantitative Analyseaufgaben durchzuführen. Insgesamt ist das PHILIPS Tecnai G2 F30 Rasterelektronenmikroskop ein hochmodernes Instrument, das beispiellose Bildgebungs- und Analysefähigkeiten für das Studium von Materialien auf der Nanoskala bietet. Mit seiner fortschrittlichen Technologie, hochauflösenden Bildgebung und vielseitigen analytischen Fähigkeiten ist Tecnai G2 F30 ein leistungsfähiges Werkzeug für die Forschung in der Materialwissenschaft, Halbleitertechnologie, Biologie und anderen wissenschaftlichen Bereichen, die eine präzise Bildgebung und Charakterisierung von Nanostrukturen erfordern.