Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 Spirit Twin #293600943 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293600943
Transmission Electron Microscope (TEM)
BRUCKER 410-MT X-Flash detector
Single tilt holder
Spare parts
Does not include:
STEM
Cryo / Low dose
GATAN Camera
2013 vintage.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twin Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein modernes bildgebendes Gerät, das entwickelt wurde, um eine detaillierte Mikrostrukturanalyse zu erhalten. Es bietet hochauflösende und kontrastreiche Bildgebung sowie automatische Bildaufnahme- und Bildverarbeitungsfunktionen. Dieses System ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, wie Halbleiterfehleranalyse, Nanostrukturanalyse, materialwissenschaftliche Forschung und Werkstofftechnik. FEI Tecnai G2 Spirit Twin verfügt über eine ultra-hohe Vakuumkammer mit einer Feldemissionskanone (FEG). Diese Einheit erzeugt einen hoch kontrollierten und zuverlässigen Elektronenstrahl, der in der Lage ist, Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer zu erhalten. Der FEG-Elektronenstrahl ermöglicht sehr hohe Stromdichten und Vergrößerungen bis zu 500.000x. Das SEM ist in der Lage, Proben in sekundären und rückgestreuten Elektronen (BSE) -Modi zusammen mit hochauflösenden Topografiner oder 3D-Tomographie-Bildgebung abzubilden. Die automatischen Bilderfassungssysteme ermöglichen eine schnelle und genaue Abbildung jeder Art von Probe. Die Steuerungs- und Automatisierungssoftware Image Explorer ermöglicht es dem Benutzer, einfach durch mehrere Bilder gleichzeitig zu navigieren und leistungsfähige automatisierte Analysemethoden bereitzustellen. PHILIPS Tecnai G2 Spirit Twin hat eine Probenstufe mit einer großen Probenfläche und einem Neigungsbereich von +/- 70 °, die eine Bildgebung mit jeder Orientierung ermöglicht. Diese Maschine verfügt über eine vollautomatische SEM-Aufbereitungsstation, die für die Probenaufbereitung verwendet werden kann. Tecnai G2 Spirit Twin-Tool verfügt über erweiterte digitale Bildgebungsfunktionen, die Kontrast- und Intensitätssteuerungen umfassen, die sowohl Helligkeit als auch Farbe der Scanbilder messen können. Die schnelle Verarbeitungsgeschwindigkeit der Anlage garantiert eine hohe Bildrate und interaktive Funktionen mit minimaler Verzögerung. Erweiterte interaktive Bildanalyse-Tools umfassen EDS/EDX, 3D-XKR und 3D-XRA. Insgesamt ist PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twin ein leistungsstarkes, vielseitiges und einfach zu bedienendes Rasterelektronenmikroskop, das die Mikrostrukturanalyse erleichtert. Mit hochauflösender Bildgebung, schneller Bildaufnahmegeschwindigkeit und einer Reihe von Bildanalysetools ist dieses Modell für eine Vielzahl von Anwendungen gut geeignet.
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