Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 #9361086 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9361086
Weinlese: 2004
Transmission Electron Microscope (TEM)
With STEM mode
Voltage range: 40 to 200 kV
Bright field / Dark field
Secondary electron detector for STEM mode
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) detector
Chiller
FEG Microscope
Field emitter gun
Camera: CCD Orius
SC 1000 CCD
With A860 GIF 2000
Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS)
Energy Filtered TEM (EFTEM)
Nanometer Pattern Generating System (NPGS)
FEG Replaced
Point resolution: 0.27 nm
Line resolution: 0.144 nm
STEM Resolution: 1.0 nm
Information limit: 0.18 nm
Energy spread: 0.7 eV
Maximum alpha-tilt angle with double-tilt holder: ±50°
Maximum diffraction angle: ±10°
Camera length: 35-2300 mm
EDS Solid angle: 0.13 srad
Standalone PC
Operating system: Windows XP
Voltage range: 80 to 300 kV
Power supply: 200kV
2004 vintage.
PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 ist eine Hochleistungs-, Feldemission, Elektronmikroskop scannend (FESEM). Es ist für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Live Cell Imaging und Nanoskala-Bildgebung konzipiert. Dieses Gerät verfügt über eine einzigartige Kombination aus überlegener Auflösung und überlegener Aberrationskorrektur im Vergleich zu anderen FESEMs. Die erweiterte Auto-Tune-Funktion hält die optimalen Strahlbedingungen und sorgt für konsistente Leistung für die Länge der Arbeitssitzung. Das G2- TF20 ist mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die eine überlegene Beschleunigungsspannungsstabilität und eine ausgezeichnete hochauflösende Bildgebungsleistung bietet. Dieses System verfügt über Röntgendetektorfähigkeiten für die Mikroanalyse von Materialien und ist auch in der Lage, biologische Proben in situ abzubilden. Das G2 TF20 verfügt über eine einzigartige voll integrierte Einheit, die für hochpräzise Probenbeobachtungen entwickelt wurde. Die Tilting-Magnification Multi-Dimensional Structured Lighumination (TM-MDIS) Maschine bietet eine fortschrittliche bildgebende Lösung für eine verbesserte Probencharakterisierung und -beobachtung. Es bietet eine einzigartige Kombination aus 3D-White LightTM, Digital KöhlerTM und Multi-Dimensional Structured Illumination, um ein beispielloses Niveau an 3D-Informationen zu bieten. Das G2- TF20 ist mit einem 30-nm-Auflösungsdetektor ausgestattet, der die Beobachtung der kleinsten Merkmale einer Probe im Detail ermöglicht. Das Asset bietet auch fortschrittliche Bildgebungstechniken wie SE-BF, SE-DF, SE-APRT, SE-LF und SE-BSE, um 3D-Informationen über Ihre Probe zu erhalten. Darüber hinaus bietet das G2- TF20 auch automatisierte Mustererkennungs- und KE-Analysefunktionen zur effizienten Charakterisierung und Quantifizierung von Oberflächenmerkmalen und Mikrostrukturkomponenten. Dieses Modell bietet leistungsstarke Automatisierung und Benutzerfreundlichkeit, um die Benutzerzeit drastisch zu reduzieren und die Produktivität im Labor zu erhöhen. Das G2- TF20 ist das ultimative Rasterelektronenmikroskop für Forscher und Ingenieure, die eine hochauflösende Bildgebung und eine breite Palette innovativer Analysewerkzeuge zur Charakterisierung ihrer Probe benötigen.
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