Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 #293792271 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai G2 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für die routinemäßige als auch für die fortschrittliche Materialcharakterisierung entwickelt wurde. Es verfügt über eine Feldemissionselektronenkanone (FEG), die extrem hohe Strahlströme im Bereich von 1 bis 140 pA liefert, was eine höhere Auflösung und schnellere Erfassungszeiten ermöglicht. Das G2 beinhaltet eine große Kammer zum Betrachten und Manipulieren von Proben. Die Drei-Achsen-Stufen können die Probe durch einen Bewegungsbereich mit Motordrehzahlen bis 15 mm/s und einer Probenkammerneigung von ± 60 ° positionieren. Eine Luftlagerspindel ermöglicht eine hochgenaue Drehung und Neigung der Probe. Das G2 verwendet eine monochrome Ladegerät (CCD) -Kamera für die Bildgebung. Die Standardkamera verfügt über eine effektive Auflösung von bis zu 2560x1920 Pixeln und ermöglicht eine detaillierte Darstellung der Oberfläche der Probe. Der Accelx-Sekundärelektron (SE) -Winkeldetektor (AD) und der Backscatter-Elektronen (BE) -Detektor (BD) stehen auch für die Bildgebung im kontrastreichen bzw. monochromen Modus zur Verfügung. Der G2 ist mit einer Schottky-Feldemissionsquelle (FES) zur Strommodulation ausgestattet. Dies ermöglicht sowohl hochauflösende Bildgebung als auch analytische Funktionen. Mit dem FES können Anwender die Mikrostruktur der Probe auf Nanometerebene mit größerer Genauigkeit beobachten als bei herkömmlichen SEMs. Der Strom kann fein abgestimmt werden, was eine genaue SEM-Bildgebung sowie eine energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) für elementare und chemische Analysen ermöglicht. FEI Tecnai G2 ist ein vielseitiges Instrument für hochauflösende Bildgebung und genaue elementare Quantifizierung. Mit seiner Hochleistungs-Feldemissionsquelle, hochauflösenden Detektoren und einer großen Probenahmekammer bietet es eine umfassende Palette von Möglichkeiten für jede Art von Materialcharakterisierung.