Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9350685 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai G2 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet wird, einschließlich Materialwissenschaft, Herstellung medizinischer Geräte und Halbleiterherstellung. Die grundlegende Technologie des Mikroskops ist die des Rasterelektronenstrahls, der beim Überfahren einer Probe ein Bild mit hoher Auflösung und Tiefenschärfe ergibt. FEI Tecnai G2 ist speziell ein einstellbares Raster-Transmissionselektronenmikroskop (STEM), das die Eigenschaften sowohl des TEM- als auch des SEM-Mikroskops in einem Instrument einzigartig kombiniert. PHILIPS Tecnai G2 ist mit einer fortschrittlichen digitalen Bildgebungsausrüstung, optimierten Erfassungs- und Verarbeitungsalgorithmen ausgestattet und hat eine Spotgröße von bis zu 31,5 nm. Dies ermöglicht die Abbildung selbst kleinster Strukturen mit hohem Kontrast, Auflösung, Detail und Schärfe. Zusätzlich weist Tecnai G2 ein einstellbares Quadrupolfeld STEM Detector System mit dreidimensionaler Bildgebung auf, was den Kontrast durch Unterdrückung der im herkömmlichen SEM-Bildgebungsmodus detektierten Sekundärelektronen wesentlich erhöht. Die einstellbare Feld-MINT-Einheit ermöglicht auch die Einzelteilchenanalyse und Elementarkarten. Neben all diesen leistungsstarken Bildgebungsfunktionen ist PHILIPS/FEI Tecnai G2 speziell für die Werkstoffkennzeichnung konzipiert. Es verfügt über die Energy Dispersive X-Ray (EDX) Maschine, die elementare Analyse von Proben mit überlegener Empfindlichkeit und Auflösung ermöglicht. In Kombination mit hochauflösendem EDS-Mapping haben Anwender die Möglichkeit, Struktur/Zusammensetzung und mikrostrukturelle Merkmale von Proben mit ausgezeichneter Genauigkeit zu charakterisieren. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine Kryo-Ultramikrotomie-Stufe zur Probenvorbereitung und Kryotransfer von Proben und eine schnelle Kipptechnik zur aberrationskorrigierten Bildgebung. In Summe ist das FEI Tecnai G2 Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches multifunktionales Instrument, das entwickelt wurde, um eine hochauflösende Bildgebung und Materialcharakterisierung verschiedener Proben zu erreichen. Die einstellbare MINT-Technologie sowie die EDX- und EDS-Mapping-Funktionen bieten Benutzern die Möglichkeit, mikrostrukturelle Merkmale in unvergleichlichen Details zu überprüfen.