Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9399892 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai G2 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Proben im Nanoskalibereich. Dank seiner vielfältigen Funktionen ist es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen. FEI Tecnai G2 verfügt über eine fortschrittliche Umgebung in der Kammer, die auch den Betrieb der empfindlichsten Proben in einer kontrollierten Atmosphäre ermöglicht, ohne dass eine externe Vakuumkammer erforderlich ist. Seine Hochgeschwindigkeits-Elektronenoptik bietet eine Bildauflösung von bis zu 1 nm und seine modernste Technologie ermöglicht die Beobachtung von minutiösen Probendetails. Das integrierte Oxford Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDX) verbessert die Fähigkeit des SEMs weiter und ermöglicht es den Betreibern, eine Elementaranalyse der Probe durchzuführen. Das EDS-Spektrometer ist mit fortschrittlicher digitaler Bildgebungstechnologie ausgestattet und bietet kontrastreiche Bilder, die eine präzise elementare Abbildung ermöglichen. Die variable Druckabbildungsmöglichkeit ermöglicht die Abbildung von Proben bei größeren Vergrößerungen als es bei einem herkömmlichen Hochvakuum-SEM möglich wäre. Dieses Merkmal ist besonders nützlich für organische Proben, da es ermöglicht, sie eingehend zu untersuchen, ohne sie zu beschädigen. PHILIPS Tecnai G2 bietet eine Vielzahl weiterer Funktionen, einschließlich fortschrittlicher Manipulationsmechanismen zum Aufnehmen, Bewegen und Positionieren von Proben; In-Focus-Detektion für maximalen Kontrast; und glasige Kohlenstoffbeschichtung zur Abbildung von Proben auf einem Niederspannungsstrahl. Tecnai G2 enthält auch einzigartige Softwarepakete für die bildgebende Steuerung, Analyse und das Schreiben von Berichten, um die bildgebenden Funktionen dieses vielseitigen SEM zu verbessern. Insgesamt ist das PHILIPS/FEI Tecnai G2 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes Werkzeug, das die Bildgebung und Analyse von Proben im Nanoskalibereich ermöglicht. Dank seiner erweiterten Bildgebungs- und Steuerungsfunktionen, der variablen Druckabbildung und der Softwarepakete ist es eine ideale Wahl für eine breite Palette nanostrukturierter Charakterisierungsanwendungen.