Gebraucht PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #293748941 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Tecnai TF20 ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden bildgebenden, analytischen und kompositorischen Analyse mikrostrukturierter Materialien. Es ist eines der fortschrittlichsten SEM-Systeme mit einer großen Auswahl an leistungsstarken Analyseinstrumenten. Das Instrument ist mit einer magnetischen Linse 20 kV, oxidbeschichteten Wolframfaden für Dim und Hellfeld-Bildgebung ausgestattet. Es ist mit einem Everhart-Thornley Backscatter-Detektor ausgestattet, der die gleichzeitige Sammlung von Sekundär- und Rückstreuelektronen ermöglicht, was den Kontrast zwischen den Eigenschaften der Nanometerskala verbessert. FEI Tecnai TF20 verfügt über eine hochgenaue, automatische Probentransferausrüstung, die eine präzise Ausrichtung von Probenstücken ermöglicht und auch eine parallele Driftsteuerung ermöglicht. Es bietet auch eine große Kipp- und Drehprobe-Stufe, die Probenbesichtigung über einen weiten Bereich von Winkeln ermöglicht. Dies ist besonders vorteilhaft bei der Bildgebung und Analyse von feinen Mikrostrukturen und ideal für Nanostrukturbildgebung, Elementarkartierung und analytisches Scannen. PHILIPS TECNAI TF-20 bietet eine Reihe fortschrittlicher Analyseinstrumente, die es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Materialanalyse machen. Das Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) -System verwendet einen Everhart-Thornley 60-Kanal-Detektor, um die elementare Zusammensetzung von Proben zu identifizieren und zu quantifizieren. Zusätzlich verwendet die Einheit eine JEOL-Ertrag-AAL-Elektronenergieverlustspektroskopienmaschine, die dazu fähig ist, hochauflösende Kernniveauspektroskopie von Materialien durchzuführen. Für die Ladungserkennung ist FEI TECNAI TF-20 mit einem ViewPoint 5-D Scanning Charge Detector ausgestattet, der vollständige Gebühreninformationen liefert. Dieser Detektor wird mit den hochvergrößerten Funktionen des SEM kombiniert und dient zur Erfassung von Oberflächen- und Untergrundinformationen. PHILIPS/FEI TECNAI TF-20 bietet eine breite Palette von anderen Funktionen, einschließlich Evercool Kryo-Proben Vorbereitung und uniovale Heizung und Kühlung Stufen thermischen Schock zu reduzieren und weitere Proben während der Bildgebung schützen. Automatisierte Funktionen wie Driftkompensation und Autofokus helfen dabei, konsistente Ergebnisse zu erhalten und die Bildgebungsgeschwindigkeit zu erhöhen. Neben seinen analytischen Fähigkeiten bietet TECNAI TF-20 eine Reihe von Softwarefunktionen. Es ist kompatibel mit einer umfangreichen Auswahl an Bildanalyse und Messsoftware und kann mit 3D-Stereo-Modellierungs- und Analysesoftware verwendet werden, so dass Anwender 3D-Datensätze interaktiv messen und analysieren können. Insgesamt ist Tecnai TF20 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Funktionen und Fähigkeiten für die Materialanalyse bietet. Mit seinen beeindruckenden und vielseitigen analytischen Fähigkeiten ist PHILIPS Tecnai TF20 eine ideale Wahl für Forschungs- und Handelslabore, die Materialanalysen und Charakterisierungen durchführen.