Gebraucht PHILIPS / FEI TF30ST #9378650 zu verkaufen
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ID: 9378650
Transmission Electron Microscope (TEM)
Gun: 300 kV
Outer vessel
ODP + P1, P2 Gauge
Power rack
TEM Rack
STEM Rack
Missing parts:
Column
(2) Holders
HT Tank
Pump
System PC.
PHILIPS/FEI TF30ST ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das aufgrund seines hochmodernen Designs eine hervorragende Auflösung und Bildqualität bietet. Es bietet fortschrittliche energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) für Elementaranalysen und Vakuumspiegel von 10-9 Torr. FEI TF30ST verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die bei größerem Kontrast, schnelleren Scans und besserer Bildqualität eine möglichst hohe Auflösung gewährleistet. Es enthält zusätzlich einen hochauflösenden Everhart-Thornley-Detektor, der schnellere und qualitativ hochwertigere Bildgebungs- und Spektroskopieergebnisse ermöglicht. Das SEM ist auch mit einem großflächigen Everhart-Thornley-Detektor für Großstudien ausgestattet. PHILIPS TF30ST ist auch ein anpassbares SEM, mit dem Benutzer das System an ihre spezifischen SEM-Anforderungen anpassen können. Es kommt mit einer Reihe von einstellbaren SEM-Parameter wie Beschleunigungsspannung, Pistole Drift Spannung, Abtastgeschwindigkeit und Probe Vorspannung. Das Mikroskop ist außerdem mit einer motorisierten Stufe und einem automatischen Probenwechsler ausgestattet, die eine hohe Produktivität bieten. Das Mikroskop verfügt über einen einzigartigen 3D Tomo-Modus, mit dem Benutzer dreidimensionale Bilder einer Probe erzeugen können, indem sie die Ergebnisse mehrerer Scans kombinieren. Diese 3D-Rekonstruktionstechnik bietet einzigartige Einblicke in hochauflösende Bilder und kann für Studien in Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Biologie verwendet werden. Das SEM ist auch mit einer Vielzahl von Zubehörteilen wie einem Backscatter-Detektor, einem Kryo-Halter, Heizstufen, Elektronenstrahl-Lithographie und Röntgen-Hochauflösungskameras für hochauflösende Bildgebung und Analyse ausgestattet. Diese Merkmale ermöglichen den Forschern eine eingehende Charakterisierung ihrer Proben. Zusammenfassend ist TF30ST ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern eine Vielzahl von Analysewerkzeugen und Bildauflösungen bietet und somit ideal für eine Vielzahl von Bereichen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie und andere Wissenschaften geeignet ist. Seine anpassbaren Parameter, 3D-Tomographie-Modus und Sortiment von anderen Funktionen machen es zu einem großen Werkzeug für detaillierte Muster Charakterisierung.
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