Gebraucht PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293595255 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293595255
Weinlese: 2009
Transmission Electron Microscope (TEM)
Model no: FP5600/30
Cs Image corrector
Air cooling unit non-functional
Option:
HT Generator: 300 kV
STEM Package: 300 kV
2009 vintage.
PHILIPS/FEI Titan 80-300 ist ein vielseitiges und zuverlässiges Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine maximale Kontrolle über detaillierte Oberflächenuntersuchungen bietet. Es besteht aus einer Elektronensäule, Controller, Stufen und Detektoren. Die in FEI Titan 80-300 verwendete leistungsstarke Elektronensäule hat eine Beschleunigungsspannung im Bereich von 0,2-30 keV, die eine hochauflösende Abbildung und Mikroanalyse von Proben ermöglicht. Es ist mit automatischer Helligkeit und Stigmator-Einstellungen ausgestattet und hat die Fähigkeit, Proben zu kippen und zu drehen, was den Benutzern ein erhöhtes Maß an Kontrolle bietet. Die Steuerung, die für die Steuerung der verschiedenen Bewegungen des Gerätes und seiner Komponenten zuständig ist, ist mit der Spalte verbunden und liefert eine Reihe von Antworten auf Benutzerbefehle von bis zu 0,2 nm Inkrementen. Es passt auch automatisch die Probenstufe und Detektor für optimale Leistung und Genauigkeit. Die Probenstufen des PHILIPS Titan 80-300 sind voll motorisiert und in der Lage, X-, Y- und Z-Messungen mit höchster Präzision durchzuführen. Die Stufen können eine Reihe von Bewegungen für Winkel- und Neigungsabtastungen durchführen, die maximale Kontrolle und Genauigkeit während der Experimente gewährleisten. Die Detektorsysteme sind zur Detektion von Sekundärpartikeln aus der Zielmaterialprobe ausgelegt. Die Detektoren sind mit der Steuerung verbunden, so dass sofort auf die Partikeldaten, Elektronenausbeuten und Bilder des Zielmaterials zugegriffen werden kann. Titan 80-300 ist ein zuverlässiges, hochauflösendes Elektronenmikroskop, das eine maximale Kontrolle über mikroskopische Untersuchungen ermöglicht. Es ist mit leistungsstarker Säule, fortschrittlicher Steuerung und Stufen und zuverlässigen Detektorsystemen ausgestattet. Zusammen ermöglichen diese Komponenten es Anwendern, mikroskopische Materialien mit höchster Genauigkeit und Sicherheit genau zu messen, zu manipulieren und zu analysieren.
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