Gebraucht PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293755050 zu verkaufen
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ID: 293755050
Transmission Electron Microscope (TEM)
Type: X-FEG
GATAN Orius SC1000B Camera
EFTEM and EELS GATAN Image filder
High tension: 80 kV - 300 kV
Monochromator: Wien filter
Energy resolution: < 0.1 eV
Pole piece: S-Twin
LORENTZ Lens
CS-Image corrector: CETCOR
Point resolution TEM: down to 0.08 nm (CS Corrected)
Point resolution STEM: 0.18 nm (Uncorrected)
Stage tilt: ±70°.
PHILIPS/FEI Titan 80-300 Rasterelektronenmikroskop ist ein modernes Instrumentarium, das Forschern unglaublich detaillierte Messungen ihrer Probe ermöglicht. Dieses Modell des Elektronenmikroskops ist eine Feldemission SEM und wurde entwickelt, um beispiellose Leistung und Bildqualität zu liefern. Es verfügt über eine Hochdruckkammer, ein Hochenergie-Doppelstrahlsystem und eine ultrahochauflösende Bildempfindlichkeit. FEI Titan 80-300 verwendet eine Quelle mit einer Feldemissionskanone (FEG) als Elektronenquelle und liefert die notwendige Energie, um hochauflösende, kontrastreiche Bilder auf der Probenoberfläche zu erzeugen. Die Elektronenkanone maximiert auch den Elektronendurchsatz und liefert eine breite Palette von Vergrößerungsmöglichkeiten PHILIPS Titan 80-300 Rasterelektronenmikroskop verfügt über eine Hochdruckkammer, die Drücke von ultrahoch bis niedervakuum erreichen kann. Sein Druckbereich ermöglicht es, eine Vielzahl von Proben zu untersuchen, einschließlich derjenigen, die sehr empfindlich sind. Diese Kammer bietet auch eine ausgezeichnete Kontrolle über die Abbildungsumgebung. Das hochenergetische Dual-Beam-System des Elektronenmikroskops bietet überlegene Dual-Imaging-Fähigkeiten. Der Primärstrahl dient zur Detektion und Identifizierung von Elementen in der Probe, während der Sekundärstrahl für eine kontrastreiche Abbildung und eine extrem hohe Auflösung sorgt. Das Dual-Beam-System ermöglicht auch eine präzise Analyse von Mikrostrukturen und Mikroprozessen, die genaue Messungen von Größe, Form, Orientierung und Materialien ermöglicht. Das Titan 80-300 Rasterelektronenmikroskop verfügt über eine ultrahochauflösende Bildempfindlichkeit, die atomare Werte erreichen kann. Diese hohe Auflösung ermöglicht eine hochqualitative Abbildung feiner Details in der Probenoberfläche. Darüber hinaus verfügt dieses Elektronenmikroskop über eine temperaturgesteuerte Stufe, die auch bei rauen Umgebungsbedingungen genaue Ergebnisse gewährleistet. PHILIPS/FEI Titan 80-300 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Seine hochauflösenden Bildgebungsfunktionen, sein robuster Funktionssatz und seine einstellbare Druckumgebung machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Forschungszwecke. Mit der mitgelieferten fortschrittlichen Software können präzise Messungen und detaillierte Analysen von Proben durchgeführt werden, ohne dass zusätzliche Geräte benötigt werden.
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