Gebraucht PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293777416 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Titan 80-300 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein modernes Hochleistungsgerät, das entwickelt wurde, um hochauflösende Bilder einer Vielzahl von Proben zu erzeugen. Mit seinem großen Arbeitsabstand, seiner hervorragenden Kontrast- und Auflösungsfähigkeit ist dieses Instrument ideal für anspruchsvolle Inspektions- und Forschungsanwendungen. Optisch ist der FEI Titan 80-300 SEM mit einer In-Objektiv-Säule ausgestattet, die eine hochdefinierte Abbildung kleiner Details mit möglichst hoher Auflösung gewährleistet. Die Säule verfügt über eine Feldpistole, die eine sehr hohe Stromdichte aufweist und somit eine verbesserte Auflösung über alle Vergrößerungen bietet. Die Elektronenoptik ermöglicht zudem einen extrem weiten Arbeitsabstand, der es dem Anwender ermöglicht, größere Objekte für eine detaillierte Bildgebung zu manipulieren. PHILIPS Titan 80-300 verwendet eine automatisierte X-Y-Stufe zur präzisen Positionierung. Dank dieses Systems kann der Benutzer einen Bereich der Probe mit hoher Genauigkeit auswählen, bewerten und abbilden. Darüber hinaus umfasst die XY-Stufe auch einen Probenhalter-Mechanismus, der einen schnellen Probenaustausch in Kombination mit der Probentiefenabbildung ermöglicht. Titan 80-300 ist weiterhin mit BSE- und SE-Detektoren ausgestattet, die die bildgebenden Fähigkeiten des SEM verbessern. Der SE-Detektor erzeugt qualitativ hochwertige Bilder, die detaillierte Informationen über die Topographie der Probe bieten, während der BSE-Detektor Kompositionskarten erstellt, mit denen verschiedene in der Probe vorhandene Phasen identifiziert werden können. Darüber hinaus verwendet dieses SEM einen Rückstreuelektronendetektor, der eine eingehende Analyse für Anwendungen bietet, die highEnergy-Röntgenbilder erfordern. PHILIPS/FEI Titan 80-300 bietet anspruchsvolle benutzerfreundliche Funktionen für einen effizienten Betrieb. Zum Beispiel kann der Betreiber die neuesten Upgrades und Software-Anwendungen von FEI für das SEM direkt aus der Software zugreifen, wie sie zur Verfügung stehen, so dass es einfach, auf dem neuesten Stand der Technik zu halten. Darüber hinaus ist der FEI Titan 80-300 SEM so konzipiert, dass er mit verschiedenen Design- und Bildgebungsprogrammen wie der PHILIPS TEMPLEX-Software kompatibel ist. In Bezug auf die Stabilität, PHILIPS Titan 80-300 kann außergewöhnliche Bildqualität und Stabilität für lange Zeiträume beibehalten, so dass es ideal für Forschung und Bildungszwecke. Dank der eingebauten thermischen und mechanischen Kompensationen eignet sich Titan 80-300 hervorragend für Anwendungen mit Probenanalyse über längere Zeiträume. Abschließend ist PHILIPS/FEI Titan 80-300 Scanning Electron Microscope ein zuverlässiges und leistungsstarkes Instrument, das Vielseitigkeit und Präzision für eine Vielzahl von Forschungs- und klinischen Anwendungen bietet. Mit seinem großen Arbeitsabstand, der hervorragenden Auflösung, der automatisierten XY-Stufe und der In-Objektiv-Säule ist dieses SEM das perfekte Werkzeug, um hochauflösende Bilder von Proben für anspruchsvolle Inspektionsanwendungen zu erhalten.