Gebraucht PHILIPS / FEI Titan 80-300 #293817325 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Titan 80-300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung, Elementaranalyse und Röntgenbildgebung bei hohen Vergrößerungen. Es ist ein Hochleistungsmikroskop, das eine große Schärfentiefe mit einer hohen Auflösung für die Bildgebung und Analyse von Materialien bis zum Nanometerspiegel kombiniert. Dies macht es ideal für Anwendungen in einer Vielzahl von Bereichen, einschließlich Materialwissenschaft, Biologie, Mikroelektronik und Halbleiterherstellung. FEI Titan 80-300 verwendet eine hochauflösende, monochromierte Elektronenquelle, die bei 30 ° geneigt ist, um sphärische Aberration zu reduzieren. Dies ermöglicht eine bessere Bildklarheit und große Schärfentiefe über eine breite Palette von Vergrößerungen. Das spannungsfreie Design des SEM sorgt für eine stabile Bildgebung, während die langfristige Driftkorrektur dafür sorgt, dass Farbunterschiede in den Bildern im Laufe der Zeit konsistent sind. PHILIPS Titan 80-300 verfügt auch über fortschrittliche Backscatter-Bildgebungstechnologie. Auf diese Weise kann der Benutzer nicht leitfähige Materialien mit hoher Auflösung betrachten, indem er Elektronen detektiert, die von der Oberfläche des Materials zurück zum Detektor reflektiert werden. Dies ist ideal für die Abbildung von biologischen Proben, wie Bakterien und Viruspartikeln. Titan 80-300 verfügt auch über Röntgenfunktionen. Durch die Detektion von Röntgensignalen aus der Probe kann der Benutzer elementare Karten erstellen und die Verteilung verschiedener Elemente in der Probe analysieren. Dies ist wichtig für die Untersuchung der molekularen Zusammensetzung, beispielsweise im Bereich der Halbleiterforschung und -entwicklung. Schließlich bietet PHILIPS/FEI Titan 80-300 auch eine Reihe von automatisierten Funktionen, die den Durchsatz verbessern und die Ermüdung der Benutzer reduzieren sollen. Automatisierte Bildnahtfunktionen zum Beispiel können Forschern Zeit beim Zusammenstellen von Bildern für große Sichtfelder und automatisiertes Laden von Proben sparen, was die genaue Positionierung von Proben für die Bildgebung erleichtert. FEI Titan 80-300 ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl von Merkmalen und Fähigkeiten, ideal für die Elementaranalyse und Bildgebung auf Nanometerebene. Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug für Forscher in einer Vielzahl von Bereichen.