Gebraucht PHILIPS / FEI Titan 80-300 #9220220 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Titan 80-300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Feldemissionskanone (FEG). Dieses Mikroskop ist ein leistungsfähiges Werkzeug zur Analyse von Proben in einer Reihe von Bereichen wie Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Halbleiterforschung. FEI Titan 80-300 verwendet eine hochmoderne FEG-Elektronenquelle mit einem Wolframfaden, der bis zu fünfmal stabiler ist als andere herkömmliche SEM-Quellen. Dies ermöglicht es dem Mikroskop, Bilder mit Subnanometer-Auflösung mit niedrigen Elektronendosen zu erzeugen, was es ideal für die Probenanalyse macht, die einen minimalen Probenschaden erfordert. Das Mikroskop bietet ein breites Sichtfeld, mit der Fähigkeit, bis zu 800 Mikrometer im Freiraum zu scannen. Es umfasst auch Koaxial- und Umgebungsdetektoren, einschließlich Rückstreu-, Sekundärelektronen- und Röntgendetektoren. Das Mikroskop verfügt zudem über eine fortschrittliche Bildanalysesoftware, mit der Forscher komplexe Strukturen präzise analysieren können. Die Flexibilität von PHILIPS Titan 80-300 ermöglicht die einfache Konfiguration für mehrere Abbildungsmodi, einschließlich fortschrittlicher MIN- und SEM-Techniken wie Dual-Beam-Imaging, elektrostatische Bildgebung und energiefilterte Bildgebung. Neben den bildgebenden Fähigkeiten umfasst Titan 80-300 auch eine Probenkammer mit Vakuumverträglichkeit bis 5 x 10-5 mbar, ein EDS-System zur Elementaranalyse sowie ein Streuverfahren zur Messung der Oberflächenrauhigkeit und Topographie von Proben. Insgesamt bietet PHILIPS/FEI Titan 80-300 erweiterte Bildgebungsfunktionen mit Sub-Nanometer-Auflösung und mehreren Bildgebungsmodi unter Wahrung der Probenintegrität. Dieses leistungsstarke SEM ist ein vielseitiges Werkzeug zur Charakterisierung und Analyse einer Vielzahl von Materialien, was es zu einem wertvollen Kapital für Forscher macht.