Gebraucht PHILIPS / FEI Titan X-Twin 80-300 #9119022 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Titan X-Twin 80-300 ist eines der weltweit leistungsstärksten Rasterelektronenmikroskope (SEMs). Es verfügt über zwei unabhängige Elektronenoptiken und zwei unabhängige Beugungssysteme, was es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Laboranalyse macht. FEI Titan X-Twin 80-300 hat eine vollautomatische Bedienung, so dass der Benutzer schnell die gewünschten Bilder und Daten erfassen kann. Dieses Mikroskop ist in der Lage, an einer Vielzahl von Vergrößerungen zu arbeiten, von Sub-Nanometer bis Hunderte von Millimetern, und optisch integrieren generierte Bilder für die Verwendung mit 3D-Analyseprogrammen. Es enthält auch einen 15-poligen C2-Kondensator, der hilft, den Bildkontrast und die überlegene Probenbeleuchtung zu verbessern. Hardwaremäßig verwendet PHILIPS Titan X-Twin 80-300 eine integrierte, beheizte Stufe, die für EBSD (electron backscatter diffraction) und EDS (energy-dispersive Röntgenspektroskopie) adaptiert ist und qualitative und quantitative Analysen ermöglicht. Es enthält auch eine nützliche MMCapsule (Metal Membrane Capsule) Elektronikkammer, die hilft, empfindliche Teile vor elektrostatischen Schäden während des Betriebs zu schützen. Die Stufe ist über ein geschütztes Kabel mit der Elektroniksteuer- und Datenerfassungsstation verbunden. Um eine qualitativ hochwertige Bildaufnahme zu gewährleisten, verfügt der Titan X-Twin 80-300 über einen Füllstandsdetektor mit variabler Apertur, eine Genauigkeit von 0,5 Nanometer, einen definierten Fokus von bis zu 500 Nanometern (mit einer empirischen Auflösung von 1 Nanometer) und einen dynamischen Bereich von 0.3-1000V. PHILIPS/FEI Titan X-Twin 80-300 bietet auch eine breite Palette von verschiedenen bildgebenden Modi, wie Beobachtung, Projektion, Rückstreuung und Beugung Bildgebung. Darüber hinaus hilft das Mikroskop, die Bearbeitungs- und Bildverarbeitungszeiten von Proben mit einer Vielzahl benutzerfreundlicher Werkzeuge zu reduzieren, einschließlich Bild- und Spektralextraktion, automatisiertes Mapping und automatische Drift-, Neigungs- und Steigungsbeobachtungen. Insgesamt ist das FEI Titan X-Twin 80-300 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für einen zuverlässigen und präzisen Betrieb in einer Vielzahl von Laboreinstellungen entwickelt wurde. Seine Kombination von Funktionen, von ausgezeichneter bildgebender Erfassung und Datenextraktion bis hin zu fortschrittlicher Kontrolle und Probenanalyse, macht es zu einem hervorragenden Kapital für ein modernes wissenschaftliches Labor.