Gebraucht PHILIPS / FEI Titan #9315607 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9315607
System
Electron sources: FEG
Acceleration voltage range: 80 kV to 300 kV
With preset alignment for 80 kV and 300 kV
Scanning transmission electron microscopy mode
Convergent beam and selected area electron diffraction modes
Conventional TEM modes
Point resolution in TEM mode: 0.20 nm at 300 kV
Information limit: <0.1 nm
STEM Resolution: 0.136 nm at 300 kV
Super-twin objective lens pole piece
FISCHIONE High angle annular dark field STEM detector for Z-contrast imaging
BF and DF STEM detector
GATAN Tridiem energy filter:
Electron energy loss spectroscopy
Energy-filtered TEM
Filter energy spread: 0.8 eV
Entrance aperture 5 mm
EFTEM field of view: 20 μm (diagonal, select TEM models)
Maximum diffraction angle: 120 mRad (select TEM models)
Non-isochromaticity: < 1.25 eV
Distortion: < 1.75 %
Chromaticity: < 1.5 μm/eV
Detector resolution: 2048 x 2048 pixels (UltraScan™ sensor with HCR™ technology)
EFTEM readout speed: 4 frames/sec (EFTEM, 512 x 512)
Viewing readout speed: > 10 frames/sec (Cinema mode, 512 x 256)
Spectroscopy
Filter energy resolution: 0.25 eV
Attainable system resolution: 0.6 eV (0.55 eV TEM with cold FEG, 0.25 eV GIF)
Detector channels per readout: 2,048
Detector dynamic range: 0 - 60,000 counts/ch
Detector noise: < 6 counts/ch
Maximum readout speed: > 30 spectra/sec
2K x 2K UltraScan camera
No probe / Objective corrector
EDX Ultimo max TLE silicon drift detector (100 mm²):
Fast mapping: 200,000 Counts per second
Energy peak resolution:
Separate carbon
Nitrogen
Oxygen peaks with 50 eV FWHM.
PHILIPS/FEI Titan ist ein weltweit bekanntes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich sowohl in der Feldemission als auch in der temperaturgesteuerten Rasterelektronenspektroskopie auszeichnet. Mit seiner fortschrittlichen Leistung und mehreren Modi ist FEI Titan eine ideale Wahl für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien in Bereichen wie Mikroelektronik, Metallographie und Life Sciences. PHILIPS Titan 's Design verfügt über zwei Waffenmodi: eine Feldemissionskanone (FEG) mit eingebautem Speicher und eine Titan-gesputterte thermisch gesteuerte Feldemissionskanone (TCFEG). Beide Waffenmodi können kombiniert werden, um spezielle Abbildungsmodi zu erstellen. Das FEG verfügt über eine integrierte E-Beam-Intensität und Helligkeitsregelung, so dass Benutzer die E-Beam-Intensität und Spannung für optimalen Kontrast einstellen können. Titan bietet auch die Möglichkeit, in einem Dual-Beam-Modus zu arbeiten, der es ermöglicht, zwei Arten von Proben gleichzeitig zu sondieren. Es enthält Softwarepakete wie AutoFocus, Auto Comparison und FEI 3D Scan Interface (PSI). PHILIPS/FEI Titan ist mit einem präzisen Abtastsystem ausgestattet, das ein einstellbares Step-and-Settle-Scannen über einen Bereich von 1 nm bis 500 μ m ermöglicht. Dieses Gerät erspart grobe Scans, sodass Anwender schnell und präzise mit kurzen Zwischenstufen scannen können. Es ermöglicht auch Benutzern, die Probe bei verschiedenen Vergrößerungen während des Scanvorgangs zu beobachten. FEI Titan bietet eine Säulenlänge von 200 mm für weitere Bildtiefe. PHILIPS Titan wurde entwickelt, um eine hervorragende Auflösung mit hoher Bildqualität und Flexibilität zu bieten. Seine Detektormaschine enthält mehrere Optionen für photometrische, elektrische und magnetische Modi. Es umfasst auch einen speziell entwickelten Probenhalter für quantitative Analysezwecke. Zusätzlich zu seinen technischen Funktionen bietet Titan eine intuitive Benutzeroberfläche mit verschiedenen innovativen Funktionen wie voreingestellte Analyselösung, Probenmapping, Fernbedienung und erweiterte Bildmanipulation. Dieses SEM wurde entwickelt, um die höchsten Anforderungen von heute zu erfüllen und bietet überlegene Bilder und Leistung. PHILIPS/FEI Titan ist eine leistungsstarke Technologie für alle bildgebenden und analytischen Anwendungen.
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