Gebraucht PHILIPS / FEI V600 #293763996 zu verkaufen

PHILIPS/FEI V600 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Arbeitsgerät für die Materialanalyse. Dieses Tool ist in der Lage, Funktionen bis zu 1 Nanometer mit hoher Effizienz aufgrund seiner modernen Optik, verbesserten Kammerdesign und fortschrittliche Scanelektronik aufzulösen. Es verfügt über ultrahochauflösende Bildgebung, integrierte 3D-Bildgebung, automatisierte Bildaufnahme und -verarbeitung sowie eine umfassende Software zur Dateninterpretation und -analyse. FEI V600 verfügt über ein Open-Architecture-Design, mit dem eine breite Palette von Detektoren und Hilfssystemen in die Hauptoptik und das Abtastsystem integriert werden kann. Dazu gehören ein energiedispersiver Röntgen- (EDX) -Detektor, ein Vollfelddetektor, ein automatisches µ-Strahllithographiewerkzeug mit bildbasierter Ausrichtungstechnik, ein EscaLam-geladener Partikelanalysator für chemische Zusammensetzung und Tiefenprofilierung und eine variable Druck-Röntgeneinheit. PHILIPS V 600 beinhaltet außerdem eine hochauflösende piezoelektrische Detektormaschine (PDS), die eine äußerst präzise Steuerung von Probenstufenbewegungen ermöglicht, und ein Doppelstrahl-Einfallswinkelwerkzeug, mit dem Bilder in mehreren Winkeln gleichzeitig erfasst werden können. Diese Anlage liefert wertvolle Informationen über die Oberflächentopographie des Probenmaterials. Darüber hinaus ermöglicht das mehrspaltige Beschleunigungsspannungsmodell (MCAV) dem Benutzer die Auswahl der optimalen Beschleunigungsspannung für seine bildgebende Anwendung. PHILIPS V600 verfügt über eine einziehbare Umweltfeld Emission Elektronenkanone (FEG), die verwendet wird, um Ultrahochvakuum Bedingungen in der Arbeitskammer zu machen. Dank des zusätzlichen Umweltzubehörs, wie der Mehrfachgassteuerung, ist PHILIPS/FEI V 600 in der Lage, bei geringerem und höherem Druck als andere SEM-Systeme zu arbeiten. Dies ist vorteilhaft, wenn verschiedene Arten von Proben wie isolierende und nichtleitende analysiert werden. Insgesamt ist das Rasterelektronenmikroskop FEI V 600 eine fortschrittliche, funktionsreiche Ausrüstung für die Materialanalyse, die sowohl eine hochwertige Bildgebung als auch eine außergewöhnliche Genauigkeit bietet. Sein benutzerfreundliches Design mit offener Architektur ermöglicht eine einfache Integration mit einer Vielzahl von Detektoren und Zubehör und verleiht diesem Instrument die Vielseitigkeit und Flexibilität, um ein breites Anwendungsspektrum abzudecken.