Gebraucht PHILIPS / FEI V600 #9243279 zu verkaufen

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ID: 9243279
Weinlese: 2007
Single beam FIB system P/N: 4022 262 70111 Includes: (4) GIS Tungsten hexacarbonyl Lodine Magnesium sulfate, 7-hydrate Xeon difluoride 2007 vintage.
PHILIPS/FEI V600 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen in Forschung und Industrie eingesetzt wird. Es verfügt über außergewöhnlich leistungsfähige Komponenten, darunter einen Sekundärelektronendetektor mit zwei Achsen, eine Säule mit 3 kV und eine WD mit 200 mm. Diese Komponenten, kombiniert mit High-End-Software und optionalem Zubehör, ermöglichen FEI- V600 extrem detaillierte Bilder bei Vergrößerungen von 10X bis 300,000X. Es verfügt über ein Sichtfeld, das von eng nach voll geändert werden kann, so dass sich der Benutzer auf bestimmte Bereiche konzentrieren und genauere Bilder erhalten kann. PHILIPS V 600 hat auch einzigartige Linsenausrichtungsfunktionen. Es verwendet einen Beispielzentriermechanismus, um sicherzustellen, dass die Probe unabhängig von Größe und Form immer im Anzeigebereich zentriert ist. V600 ist auch in der Lage, eventuell vorhandene Probendefekte zu erkennen und genau zu lokalisieren. Dies macht es ideal für die Untersuchung winzige Merkmale wie Nanostrukturen, und es wird oft für Qualitätskontrollen verwendet. PHILIPS/FEI V 600 hat sowohl manuelle als auch automatisierte Bedienelemente, wodurch es einfach zu bedienen ist. Der Anwender kann aus verschiedenen Abbildungsmodi wählen, darunter Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE) und Topographie-Bildgebung. Der SE-Modus erzeugt detaillierte Bilder am Nanolevel, während BSE und topographische Bildgebung es dem Benutzer ermöglichen, die Oberfläche einer Probe in viel größerer Tiefe zu beobachten. PHILIPS V600 verfügt auch über eine motorisierte Stufe, die hilft, die Probe für eine präzise Bildgebung zu positionieren. Die Bühne kann sowohl in X- als auch in Y-Richtung bewegt werden, so dass der Benutzer Bilder aus verschiedenen Perspektiven erhalten kann, ohne die Probe drehen zu müssen. Schließlich verfügt FEI V 600 über ein Hochdurchsatz-Datenerfassungssystem, das die Akquisitionszeit reduziert. Abschließend ist das Rasterelektronenmikroskop V 600 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Instrument sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen. Es verfügt über präzise Ausrichtungsfunktionen und Bildverarbeitungsmodi sowie automatisierte und manuelle Steuerungen, wodurch es auch in den schwierigsten Situationen einfach zu bedienen ist. Sein Hochdurchsatz-Datenerfassungssystem reduziert die Akquisitionszeiten, während seine motorisierte Stufe eine präzise Probenpositionierung ermöglicht.
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