Gebraucht PHILIPS / FEI V600CE #293809777 zu verkaufen

ID: 293809777
Weinlese: 2010
Focused Ion Beam (FIB) system Integrated Optical Microscope (IR OM) NanoChemix configured gases: XeF2 H2O O2 Cl2 W TMCTS (2) Gas Injection Systems (GIS): Probe Trim (PT) Backside circuit 2010 vintage.
PHILIPS/FEI V600CE ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Nanometer-Pegelauflösungen erzeugen kann. Es ist mit fortschrittlichen bildgebenden Fähigkeiten ausgestattet, die Elektronen verwenden und eine detaillierte Untersuchung von Materialien ermöglichen. FEI V600CE Rasterelektronenmikroskop ist in der Lage, hochauflösende Bilder mit seinem In-Column-Detektor, einer hochauflösenden Schottky-Feldemissionskanone und einem leistungsstarken rauscharmen ultraschnellen Signalverstärker zu erzeugen. Die Schottky Feldemissionskanone liefert Hochspannungselektronen mit einer kurzen Verweilzeit und ermöglicht die Abbildung mit einer hohen Geschwindigkeit bei minimierter Ausbreitung des Elektronenstrahls. Der In-Column-Detektor detektiert, verstärkt und digitalisiert automatisch Signale aus der Elektronenstrahl-Wechselwirkung mit der Probe und liefert ein On-Screen-Bild. PHILIPS V600CE verfügt über eine fortschrittliche energiedispersive Röntgenspektroskopie, die Elementaranalysen auf Nanoebene ermöglicht. Ein Photonenzählsystem ermöglicht eine zerstörungsfreie Röntgenanalyse, die bei der Identifizierung von Elementen und/oder Materialien hilft. V600CE verfügt über einen automatischen Musterwechsler, der den kontinuierlichen Einsatz ermöglicht. Es ist in der Lage, hochauflösende Mikrographen, hochvergrößerte Bildgebung, 3D-Topographie-Bilderfassung und ortsauflösende Zusammensetzung und Mikrotextur-Bildgebung. PHILIPS/FEI V600CE eignet sich hervorragend für Forscher, die eine Nanometer- oder Sub-Nanometer-Auflösung benötigen. Seine bildgebenden Fähigkeiten sind nützlich für die Untersuchung einer Vielzahl von Materialien in ihrem nativen Zustand und auf der Nanoebene. Es ist auch ein nützliches Werkzeug für die metallurgische Analyse, da seine fortschrittliche Energie dispersive Röntgenspektroskopie ist ideal für die Charakterisierung von Elementen in der Oberfläche von Metallen.
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