Gebraucht PHILIPS / FEI XL 20 #9222939 zu verkaufen

Das PHILIPS/FEI XL 20 Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches Analysegerät, das eine detaillierte Abbildung von Oberflächen und Mikrostrukturen ermöglicht und eine überlegene Bildgebungsleistung und eine verbesserte Auflösung ermöglicht. Das Mikroskop verfügt über eine leistungsstarke 60-kV-Elektronenquelle und bietet durch seine fortschrittliche CCD-Kamera eine hervorragende Detektionsempfindlichkeit. FEI XL 20 bietet eine einfache Musterpositionierung mit seiner leicht zugänglichen Probenkammer und einer kostengünstigen Automatisierung. Es verfügt über eine hochauflösende optische Bildgebungsfähigkeit von bis zu 50.000 x Vergrößerung, die eine genaue Bildaufnahme bis in die kleinsten strukturellen Details ermöglicht. Mit seiner leistungsstarken Bildgebung und der automatisierten Probenhandhabung liefert PHILIPS XL20 den Forschern schwer erreichbare Ergebnisse. PHILIPS/FEI XL20 besteht aus einer viersegmentigen Elektronensäule, die eine achromatische Objektivlinse, eine rückfokussierende einstellbare Elektronenabtastlinse und einen sekundären Elektronendetektor umfasst. Die Vier-Segmente-Spalte ermöglicht eine höhere Flexibilität und höhere Abtastraten für schnellere Abbildungszeiten. FEI XL20 ist ein integriertes System, das die Verwendung von Quadrupol-Fokussieroptiken für überlegenen Kontrast und Knusprigkeit von Bildern beinhaltet. Darüber hinaus enthält PHILIPS XL 20 einen integrierten Signalprozessor für erweiterte Bildanalyse und automatisierte Betriebsfunktionen. Das Signalprozessorpaket bietet Funktionen wie Partikelbildkorrelation, Spektralanalyse, automatisierte Bildnähte, automatisierte Bildzuschnitte und -extrakte sowie andere automatisierte Werkzeuge für eine leistungsstarke Bildanalyse und -manipulation. Die Fähigkeit, hochauflösende Bilder zu verarbeiten und qualitativ hochwertige Ergebnisse schnell und präzise zu liefern, macht XL20 zu einem leistungsfähigen und zuverlässigen Bildgebungssystem. XL 20 ist ein extrem vielseitiges und leistungsstarkes Dual-Frame-Rasterelektronenmikroskop. PHILIPS/FEI XL 20 ist mit seiner hervorragenden Bildgebungsfähigkeit, automatisierten Funktionen, Hochgeschwindigkeits-Scanning und robusten Verarbeitungsfunktionen eine ideale Wahl für fortgeschrittene Nanostrukturbildgebungs- und messtechnische Anwendungen. Seine Benutzerfreundlichkeit und niedrigen Betriebskosten machen es zur perfekten Wahl für Labor- oder Forschungsanwendungen.