Gebraucht PHILIPS / FEI XL 20 #9243138 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 20 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse von Materialoberflächen, Partikel- und Spurenanalytik, Morphologie und Elementaranalyse entwickelt wurde. Es verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die die Leistung und Genauigkeit seiner Elektronenstrahlen verbessert und für industrielle und Materialcharakterisierungsanwendungen gut geeignet ist. Das Gerät ist mit einem Inlinsen-Sekundärelektronendetektor (SED) ausgestattet, der eine detaillierte topographische Abbildung ermöglicht. Es ist auch mit einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSD) und einem Filamentsimulator für überlegene Präzision in der Bildgebung ausgestattet. Das System ist für den Niedervakuumbetrieb optimiert, bietet Zugriff auf eine breite Palette von Probentypen und ermöglicht eine hochauflösende Analyse. FEI XL 20 kann eine Auflösung von bis zu 2 nm in x-y-Richtung und 4 nm in z-Richtung erreichen. Es nutzt eine 205 mm beschleunigende Spannung, was bedeutet, dass es sowohl in niedrigen als auch in hochenergetischen Modi arbeiten kann, so dass es für die Probenahme einer Vielzahl von Materialien geeignet ist. Das Gerät verfügt auch über einen In-Linsen-SE-Detektor, der für eine hochempfindliche Bildgebung/Analyse einer Reihe von Probentypen und für eine Vielzahl von Betriebsspannungen sorgt. Schließlich verfügt die Maschine über einen flexiblen Vakuumbetrieb, wodurch Proben im Ultrahochvakuum (UHV) oder in Niedervakuumumumgebungen analysiert werden können. Dies bietet eine Reihe von experimentellen Möglichkeiten, von detaillierter Mikroskopie und Oberflächenmesstechnik bis hin zur Partikelanalyse und Spektroskopie. Zusammenfassend ist PHILIPS XL20 ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das sich ideal für Anwendungen wie hochauflösende Bildgebung, Partikel- und Spurenanalyse und elementare Charakterisierung eignet. Mit seinem flexiblen Vakuumbetrieb und der beeindruckenden Palette an Detektoren und Analysemöglichkeiten ist es eine ausgezeichnete Wahl für ein breites Spektrum an Industrie- und Forschungsanwendungen.