Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #9378140 zu verkaufen

FEI XL30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Abbildung von Nanostrukturen und Nanomaterialien ermöglicht. Das Gerät ist mit einer PHILIPS XL30 Feldemissionskanone (FEG) und einem PHILIPS/FEI linearen SE-Detektor zur energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX) ausgestattet. Das XL30 ist in der Lage, die qualitativ hochwertigsten Bilder im Vergleich zu jedem anderen SEM in seiner Klasse zu erhalten. Die hochauflösenden Bilder sind auf die geringe Elektronenemission und die geringe Wärmeemission des FEG zurückzuführen. Diese Eigenschaften ermöglichen einen niedrig dosierten Betrieb und eine höhere Vergrößerung, um kontrastreiche Bilder mit geringem Rauschen zu erzeugen. Darüber hinaus ermöglicht das EDX-System dem Benutzer, die elementare Zusammensetzung der Probe zu identifizieren. Der Benutzer kann leicht Bilder mit verschiedenen Vergrößerungen bis zu 600.000x erfassen. Arbeitsabstand, Neigung und Kontrast können von der PC-Konsole ohne Hardwareanpassungen geändert werden. Bilder können in verschiedenen Modi wie Helligkeit, Rückstreuung und andere aufgenommen werden. Das Fahrzeugleitsystem im XL30 vereinfacht die Bedienung und Ausrichtung der Probenstufe erheblich. Für eine Vielzahl von Anwendungen und Mustertypen stehen Probenstufen in mehreren Ausführungen zur Verfügung. Das XL30 verfügt über eine einzigartige „Go To“ -Position, die die Probenstufe automatisch an die nächste Position führt. Dies reduziert die Ausrichtzeit der Probe in den X-, Y- und Z-Achsen erheblich. Die „Go To“ -Funktion ermöglicht auch die automatische Bearbeitung und Durchquerung von Musterräumen, um weite Bereiche einer Probe zu scannen oder einen bestimmten Punkt von Interesse zu finden. Insgesamt ist FEI XL30 ein sehr leistungsfähiges SEM mit hervorragenden bildgebenden Funktionen und einer Vielzahl von Scanoptionen sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen. Mit seiner einzigartigen „Go To“ -Funktion und erweiterten Probenstufen kann der XL30 dem Anwender hochauflösende Bilder von Nanostrukturen und Nanomaterialien liefern.