Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9177754 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 FEG ist ein leistungsstarkes, sehr vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses fortschrittliche Instrument verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die ein hohes Maß an Reflektivität ermöglicht, sowie überlegene bildgebende Fähigkeiten. Dieses hochmoderne SEM ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Nanotechnologie-Entwicklung, fortschrittliche Fehleranalyse und Fehlerdiagnose. FEI XL 30 FEG ist mit einem robusten, selbststabilisierten Beschleuniger und zusätzlichen Komponenten gebaut, die einen konstanten Betrieb gewährleisten. Diese Funktion trägt dazu bei, die überlegene Leistung auch nach langen Betriebszeiten aufrechtzuerhalten. Das SEM verfügt auch über eine Vakuumausrüstung, die eine breite Palette von Druckbereichen ermöglicht und über längere Betriebszeiten aufrechterhalten kann. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist auch mit einem hochauflösenden MINT-Detektor ausgestattet, der es dem Benutzer ermöglicht, komplexe strukturelle Merkmale auf atomarer Ebene zu beobachten. Es verwendet ein Hochgeschwindigkeits-digitales Bildverarbeitungssystem, um detaillierte Bilder mit einer breiten Palette von Farboptionen anzuzeigen. Diese Einheit ist auch in der Lage, Echtzeit-Datenanalyse-Funktionen. Darüber hinaus ist PHILIPS XL 30 FEG mit einer benutzerfreundlichen, intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet. Diese Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, die verschiedenen Funktionen zu navigieren, Einstellungen anzupassen und Daten auf einem tragbaren Laufwerk oder einem anderen externen Speichergerät zu speichern. Dieses benutzerfreundliche Design macht es einfach, auch für unerfahrene Benutzer zu bedienen. XL 30 FEG verfügt auch über eine beeindruckende Palette von bildgebenden Funktionen. Es arbeitet mit einer Vielzahl von Spannungs- und Blendeneinstellungen, sodass der Benutzer die besten Einstellungen für seine spezifische Anwendung auswählen kann. Diese Maschine ist auch mit einer internen Stufe mit automatisierten Steuerungen ausgestattet, die eine präzise Positionierung der Proben und eine präzise Anpassung an das Sichtfeld ermöglicht. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL 30 FEG ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das überlegene Leistung, Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit bietet. Es verfügt auch über eine beeindruckende Auswahl an bildgebenden Fähigkeiten, so dass es für eine breite Palette von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen geeignet.