Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9184962 zu verkaufen
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ID: 9184962
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
FEG Schottky field emitter
Adjustable accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Resolution:
2.0 nm at 30 kV
5.0 nm at 1 kV
Detectors:
Everhard-Thornley SE/BSE (ETD)
Solid-state BSED
Manually-controlled specimen stage
IGP and Diffusion pump vacuum system
Windows 3.11 PC upgraded to Windows 2000 PC
Polaroid camera
Analytical system:
EDAX Inc Phoenix/Genesis EDX system
Liquid N2 cooled Si(Li) EDX detector 10mm²
Resolution: Mn Kα - 129 eV
SATW Window for detection
EBSD system:
HAMAMATSU Video camera
HKL Channel 5 software package for EBSD data acquisition and analysis.
PHILIPS/FEI XL 30 FEG ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entworfen wurde, um hochauflösende Bilder der Oberfläche einer Probe zu erzeugen. Es verwendet fokussierte Elektronenstrahlen, um Bilder der Probe zu erzeugen und leistungsfähige analytische Fähigkeiten bereitzustellen. FEI XL 30 FEG verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), um einen Elektronenstrahl zu erzeugen. Die FEG ist die fortschrittlichste Elektronenquelle in SEMs und ermöglicht extrem hohe Vergrößerungen und eine überlegene Auflösung. Die Strahlen werden in einem Rastermuster über die Probe abgetastet, wobei das Bild durch Detektion der Elektronen erzeugt wird, die von der Probe zurückgestreut oder emittiert werden. PHILIPS XL 30 FEG ist mit einer Reihe von Funktionen zur Leistungssteigerung ausgestattet, darunter eine große Kammer mit bis zu 500mm x 700mm Proben, Dual-LN/Ar-Kanonen für Niedervakuum, eine Ultra-Hochvakuum (UHV) -Kammer und ein automatisiertes Probentransfersystem. Es verfügt außerdem über einen In-Column-Energiefilter, mit dem der Benutzer die Energie des Strahls auswählen kann, um das erforderliche Kontrastniveau zu erreichen. XL 30 FEG enthält auch eine breite Palette von Detektoren, darunter vier Typen von SE (sekundäre Elektronen) Detektoren, zwei Typen von BS (rückgestreute Elektronen) Detektoren und ein Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS). Diese Reihe von Detektionssystemen bietet eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten, wie Elementaranalyse und Zusammensetzung. PHILIPS/FEI XL 30 FEG wird über eine Windows-basierte Benutzeroberfläche gesteuert. Auf diese Weise kann der Benutzer Parameter wie Bildauflösungen, Vakuumniveaus und das Timing des Vakuumzyklus einstellen. Das Mikroskop verfügt auch über automatisierte Automatisierungsfunktionen, wie automatisierte Fokussierung, um die Bedienung zu vereinfachen. FEI XL 30 FEG ist ein leistungsstarkes SEM, das den Anforderungen fortschrittlicher Analyseanwendungen gerecht wird. Mit seiner hervorragenden Auflösung, automatisierten Automatisierungsfunktionen und einem breiten Spektrum an analytischen Funktionen ist es ein zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug für die Untersuchung einer Vielzahl von Materialien.
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