Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #293741764 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochwertige Bildgebung mit überlegenen analytischen Fähigkeiten kombiniert. Sein robustes Design und seine innovativen Funktionen bieten eine vielseitige Plattform für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Techniken. Dieses FEI SEM verwendet eine Elektronenkanone, um einen Elektronenstrahl zu erzeugen, der fokussiert und Raster auf der Probe abgetastet wird. Der Elektronenstrahl interagiert auf unterschiedliche Weise mit der Probe und erzeugt einen elektrischen Strom oder Sekundärelektronen sowie Röntgenstrahlen und andere Strahlungsformen. Diese Information wird dann von der Elektronensäule verstärkt und von einem Detektor aufgezeichnet. FEI XL 30S FEG verfügt über eine Mikroanalyse-Fähigkeit mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) System. Für chemische Zusammensetzung, elementare Kartierung und Lichtelementanalyse kann das optionale EDAX Genesis System installiert werden. Zusammen mit dem EDS-System liefern diese Elementaranalysen von drei bis fünfundzwanzig Elementen. Die erweiterten Signalverarbeitungsfunktionen von PHILIPS XL30 S-FEG ermöglichen die Erfassung von Bildern mit schnellen Geschwindigkeiten (bis zu 1.000 Feldern pro Sekunde) und erzeugen Bilder mit überlegener Auflösung (bis zu 0,2 nm). Dadurch können sehr kleine Proben oder Proben wie dünne Materialschichten beobachtet werden, was bei herkömmlichen SEMs nicht möglich wäre. Darüber hinaus bietet PHILIPS/FEI XL 30 S-FEG eine Vielzahl von automatisierten Bildgebungswerkzeugen, wie integrierte Bildnähte, die es ermöglichen, große Bereiche schnell als Panoramabilder zu erfassen. Die automatisierte Neigungsserie ermöglicht die Abbildung dicker Proben ohne manuelle Bewegungen oder Rotationen. Der hohe Verstärkung in der Linse Detektor und der rückgestreute Elektronendetektor bieten ausgezeichneten Kontrast von verschiedenen Materialtypen. Diese Kontrasttechniken können auch für Mikroätzversuche sowie für die Abbildung elektrisch nicht leitender und isolierender Proben eingesetzt werden. PHILIPS XL 30 SFEG enthält auch Hardware-Filter, wie Blende und Strahl-Stop, um Partikel im Sichtfeld zu reduzieren oder zu blockieren. Anwenderdefinierbare Strahlaustast- und Bereichsauswahloptionen ermöglichen eine schnelle und einfache Probenanalyse. Zusammenfassend ist FEI XL 30 SFEG ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das Hochleistungs-Bildgebungsfunktionen mit Mikroanalyseoptionen, automatisierten Bildgebungswerkzeugen und erweiterten Signalverarbeitungsfunktionen für überlegene Auflösung und schnelle Datenerfassung kombiniert.