Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9255918 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich sowohl für allgemeine als auch für Forschungsanwendungen eignet. FEI XL 30S FEG verwendet eine hochauflösende Schottky Feldemissionskanone (FEG) für genaue und detaillierte Bildgebung. Es verfügt über eine automatisierte Probenaustauschausrüstung für schnelle und einfache Probenhandhabung und Vorbereitung. Die Konfiguration ermöglicht eine bemerkenswerte Bildgebung durch die Linse und eine hervorragende Leistung in der Elektronenmikroskopie. PHILIPS XL30 S-FEG nutzt ein fortschrittliches UltraHigh Resolution (UHR) Elektronenoptiksystem mit einer energiedispersiven Spektroskopie (EDS) -Einheit für die Elementaranalyse. Die Maschine verfügt über einen 4k x 4k Hochleistungsdetektor, der Analysen von ultrakleinen Objekten ermöglicht. Dieses Tool bietet exquisite Tiefenschärfe, ein großes Sichtfeld und eine überlegene Abbildung nanoskopischer Details. PHILIPS XL 30 S-FEG verfügt über eine breite Palette von Probenmessfähigkeiten. Es ermöglicht Anwendern, hochauflösende Bilder, Nanopartikel und dünne Filme mit Nanometergenauigkeit zu messen. Das Asset bietet auch Energy Filtered Imaging (EFI), um die Sichtbarkeit bestimmter Funktionen in Bildern zu verbessern. XL 30 SFEG verwendet eine Vakuumkammer und ein Turbomolekularpumpmodell, um eine niedrige Vakuumumgebung für eine optimale Bildgebung und Analyse aufrechtzuerhalten. Dieser Unterdruckzustand verhindert die Bildung von Artefakten und sorgt für hochauflösende Bilder. Das Mikroskop verfügt über eine Umgebungskammeroption, die es Anwendern ermöglicht, Proben unter verschiedenen atmosphärischen Bedingungen zu messen. FEI XL 30 S-FEG wird von Software und einer grafischen Benutzeroberfläche (GUI) betrieben, die es Anwendern ermöglicht, den Mikroskopbetrieb zu steuern und Routineaufgaben zu automatisieren. Es bietet Zugriff auf leistungsfähige Analysetools für Bildgebung und Analyse. Die Software ist sehr benutzerfreundlich und unkompliziert, so dass Benutzer schnell erweiterte Funktionen ohne viel Vorkenntnisse durchführen können. Schließlich ist PHILIPS XL 30 SFEG ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für allgemeine und Forschungsanwendungen eignet. Es bietet Anwendern hervorragende bildgebende Funktionen für Anwendungen wie Nanomaterialanalyse und Dünnschichtinspektion. Die umfassenden Pakete aus Features, Zubehör, Software und benutzerfreundlicher Oberfläche machen es zu einem hervorragenden Instrument für eine Vielzahl von Elektronenbild- und Analyseanwendungen.