Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9390243 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Vielzahl von Proben abbilden kann. Es verwendet Niederspannung, Hochspannung und variable Druckabtastmodi, so dass es eine breite Palette von Proben mit beispiellosen Details visualisieren kann. Standardmäßig mit Oxford AZtec energy dispersive spectroscopy (EDS) für die Elementaranalyse ausgestattet, ist FEI XL 30S FEG ein modernes Mikroskop für den modernen Materialwissenschaftler. PHILIPS XL30 S-FEG basiert auf einer Low Vacuum Field Emission Electron Gun (FEG), mit der zusätzlichen Fähigkeit, variable Druckabtastung und einen effektiven Beschleunigungsspannungsbereich von 2-30kV zu verwenden. Es hat eine räumliche Auflösung von bis zu 1,25 nm und verfügt über eine kurze Pulsdauer für Bilder mit minimalen Aufladungsartefakten. Die FEG-Elektronenquelle ermöglicht auch einen Elektronenstrom, der auf eine Vielzahl von Abbildungsmodi wie Rückstreuung, Sekundärelektronenbildgebung und simultane spektroskopische Bildgebung zugeschnitten werden kann. Darüber hinaus ist PHILIPS XL 30S FEG mit ZWN Automation ausgestattet, eine Funktion, die die Integration mehrerer Mikroskopie-Instrumente wie SEM, STEM und BIC für umfassende Studien ermöglicht. Das Oxford AZtec EDS Spektrometer am FEI XL 30 S-FEG eignet sich hervorragend für die Elementaranalyse. Mit seinen schnellen, automatisierten Mapping-Funktionen ist eine MAPS-Analyse bis auf 0,1 m erreichbar. Es hat einen elementaren Bereich von Bor (B) bis Uran (U) und ist in der Lage, quantitative Daten mit hoher Genauigkeit bereitzustellen. XL30 S-FEG verfügt über automatisierte Funktionen auf der großen Touchscreen-Schnittstelle mit anwendungsspezifischen Detektoren. Diese Detektoren verwalten Strahlstrom, Signaldigitalisierung und Bilderfassung und ermöglichen die Manipulation von Bildparametern, die zu kontrastreichen, rauscharmen Bildern führen. Darüber hinaus stehen viele Nachbearbeitungsfilter zur Verfügung, um Kontrast, Unschärfe, Schärfen und Färbung zu verbessern. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL30 S-FEG eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die ein fortschrittliches, leistungsstarkes SEM benötigen. Das breite Spektrum an bildgebenden Funktionen, verbesserten bildgebenden Parametern und elementaren Analysefähigkeiten macht es zu einer außergewöhnlichen Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen.