Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293586485 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein hochentwickeltes und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Kombination aus fortschrittlichen bildgebenden Fähigkeiten und Präzisionsanalysefähigkeiten bietet. Es wurde entwickelt, um den Anforderungen von Benutzern gerecht zu werden, die hochauflösende Bildgebung sowie komplexe Scan- und Analysefunktionen benötigen. Der Sirion ist mit einer langlebigen Vakuumkammer und Hochleistungsdetektorsystemen ausgestattet, so dass er Elektronenbilder mit einer Auflösung von bis zu 0,7 nm bereitstellen kann. Die Elektronenstrahl-Proben-Wechselwirkung sowohl in einer Elektronenkanone als auch in einem Sekundärelektronendetektor wird verwendet, um maximale Auflösung und Kontrast für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Anforderungen zu erreichen. In Bezug auf die bildgebenden Fähigkeiten bietet der Sirion verschiedene Methoden an, wie z.B. die Hellfeldbildgebung, die Abbildung reflektierter Elektronen und die Dunkelfeldbildgebung, die Abbildung von Sekundärelektronen. Die Hochspannungsfähigkeiten ermöglichen es, verschiedene Vergrößerungen zu erhalten, die Kontrastmerkmale auf dem Bild ergeben. Das Sirion ist auch in der Lage, hochauflösende Elementaranalysen durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und Kathodolumineszenz (CL) durchzuführen. Auf diese Weise können Anwender chemische Elemente oder Verbindungen in einer Probe identifizieren und deren Fülle bestimmen. Zu den spektroskopischen Fähigkeiten des Systems gehören auch die Elektronenspektroskopie (AES) und die Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) für fortgeschrittene analytische Experimente. Für Anwendungen mit hohem Durchsatz bietet der Sirion den Vorteil einer automatisierten Navigation mit automatisierten Navigationspunkten und der Möglichkeit, automatisierte Navigationspfade zu generieren. Darüber hinaus bietet der Sirion eine automatische Fokussierung und Ausrichtung, die eine präzise und detaillierte Bildgebung ermöglicht. Darüber hinaus wurde die Sirion-Software entwickelt, um anspruchsvolle Bildverarbeitungsfunktionen und Analysefunktionen bereitzustellen. Dazu gehören Bildverbesserung, automatisierte Messung und 3D-Visualisierung. Die Software bietet auch die Möglichkeit, benutzerdefinierte Nachbearbeitungsprofile zu erstellen und Bilder und Analyseergebnisse in andere Programme zu exportieren. Insgesamt ist FEI XL 30 Sirion ein fortschrittliches und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern eine Reihe von Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Dank seiner hohen Auflösung und fortschrittlichen automatisierten Funktionen können Anwender leicht anspruchsvolle Experimente durchführen und qualitativ hochwertige Ergebnisse erzielen.