Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293614803 zu verkaufen

ID: 293614803
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM) EDAX ETD and BSE Detector Chiller Magnification: Up to 800,000x with 2 nm Resolution: 5 nm at 10 kV or higher 5 nm at 1 kV Electron source: SCHOTTKY Thermionic field emission electron gun Gun configuration control Beam acceleration voltage range: 0.2-30 kV Beam current range: 1 pA - 25 nA Specimen stage: Eucentric goniometer: 4-Axis (X, Y, Z and R) Motorized stage with full manual override Tilt range: -15° to 60° Specimen chamber diameter: 284 mm Vacuum: Automatic vacuum interlock Diffusion pump (Lower chamber) (2) Ion getter pumps (Gun chamber) Gun chamber: 2x10^-7 Pa Specimen chamber: 2x10^-5 Pa Vacuum regained: <5 minutes Scanning system: Survey mode Scan mode Scan rotation Magnification rage: 20x - 800,000x Analytical capability: Secondary Electron (SE) detector Back Scattered Electron (BSE) detector Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS) Manuals included Voltage range: 1.0 kV - 30.0 kV.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bildgebung und Analyse für Wissenschaftler und Forscher bereitzustellen. Der Sirion hat eine maximale räumliche Auflösung von 1,2 nm und ermöglicht eine hochgradige Bildgebung und Analyse von Materialien, die selbst feinste mikrostrukturelle Merkmale erkennen können. Der Sirion ist mit einer neuen elektronenoptischen Ausrüstung ausgestattet, die eine verbesserte Optik und eine höhere Beschleunigungsspannung aufweist. Dies ermöglicht den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen, wie der Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Materialien und als Werkzeug zur Untersuchung von Mikroschaltungen. Zum Sirion gehört auch ein Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) -System mit einem wellenlängendispersiven Röntgenstrahlendetektor (WDS). Diese Einheit ermöglicht die elementare Analyse von Proben und kann verwendet werden, um genaue und vollständige Zusammensetzungen durchzuführen. Das Sirion kann in einer Vielzahl von Bildgebungs- und Analysetechniken wie Backscattered Electron Imaging (BSE), Secondary Electron Imaging (SEI), Plan-View Imaging und Sondierung und Low Vacuum Imaging eingesetzt werden. Der Sirion unterstützt auch fortschrittliche Bildgebungstechniken wie eine Beam-Shifting Image Correction Machine (BSICS) für verzerrungsfreie Bilder und automatisierte Datenerfassung. Der Sirion verfügt auch über eine Reihe von Probenmanipulationsmöglichkeiten, einschließlich einer hochpräzisen Probenstufe und Vakuumdurchführungen. Dadurch können Proben noch im Vakuum ausgerichtet und manipuliert werden, wodurch die Probenvorbereitung in Luft entfällt. Zum Sirion gehört auch ein Probenaustauschwerkzeug, das ein einfaches Umschalten zwischen Proben ermöglicht, ohne Vakuum zu brechen. Insgesamt ist FEI XL 30 Sirion ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine überlegene Bildauflösung, elementare Analysefunktionen und automatisierte Datenerfassung bietet. Es ist ein ideales Werkzeug für wissenschaftliche und industrielle Anwendungen und bietet eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen und benutzerfreundliche Funktionen.
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