Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293624757 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um außergewöhnliche bildgebende, analytische und Probenvorbereitungsergebnisse in einer Reihe von Anwendungen und Forschungsbereichen zu liefern. Seine SEM-Säule enthält eine Thermo Fisher Scientific-Elektronenquelle, die ihre Lebensdauer verlängert und ihre Leistung verbessert. FEI XL 30 Sirion verfügt auch über eine fortschrittliche Elektronenoptik-Ausrüstung, die hochauflösende Bildgebungsfunktionen mit mehr Detail als herkömmliche SEMs ermöglicht. PHILIPS XL 30 Sirion ist mit der Fähigkeit ausgestattet, eine Vielzahl von vielseitigen Probenanalysen durchzuführen, einschließlich chemischer, struktureller und elementarer Analysen. Sein fortschrittliches Elektronenoptiksystem hat die Fähigkeit, eine Probe vom Ausgangszustand bis zur Nanostrukturebene zu entnehmen. Auf diese Weise können Benutzer den elementaren Inhalt der Probe sowie deren Topologie auf einen Schlag anzeigen und messen. Das Instrument kann auch verwendet werden, um bestimmte Elemente innerhalb einer Probe zu zielen und die Bindungen zwischen ihnen zu bestimmen. XL 30 Sirion enthält ein erweitertes Feature-Set, das einen höheren Vergrößerungsbereich (bis zu 590 kV) für verbesserte Bildgebungs- und Analysefunktionen, hochauflösende Bildgebung mit einem höheren Sondenstrom von bis zu 10 μ A bei variabler Stromeinstellung umfasst. Dieses Gerät bietet außerdem ein benutzerfreundliches Touchscreen-Display für einfache Bedienung sowie Maschinendiagnose und Fehlerprotokollierung zur Fehlerbehebung. Der Sirion unterscheidet sich auch von typischen SEMs mit automatisierten automatisierten, fortschrittlichen Probenvorbereitungstechniken. Diese Techniken erleichtern die Probenvorbereitung für eine schnellere, präzisere Bildgebung und Analyse, wodurch die Anzahl der Benutzerfehler reduziert wird. Es ist für eine breite Palette von Probenabmessungen konzipiert, die ideal für Forscher oder industrielle Anwender mit unterschiedlichen Probengrößen ist. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion verfügt auch über eine breite Palette von Betrachtungs-, Mess- und Analysefunktionen. Dazu gehören automatisierte Stig-and-Tilt-Anpassung, automatisierte Astigma-Korrekturen, hochauflösende Bildgebung, 3-dimensionale Bildgebung und Merkmalserkennung, kompositorische Kartierung und Analyse, elementare Zusammensetzung und Tiefenprofilanalyse, isolierte Auflösung und Konturierung, mehrere Detektoren und synchronisierte Bildgebung.