Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293644232 zu verkaufen
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PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Forschungs- und Diagnoseanwendungen eingesetzt wird. Es ist mit fortschrittlichen Funktionen ausgestattet, um schnelle, genaue Ergebnisse zu erzielen. FEI XL 30 Sirion hat eine Vielzahl von Nachweismöglichkeiten, einschließlich Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und Reflexionselektronen. Es hat auch eine hohe Basisspannung von 30 kV für eine verbesserte Auflösung, sowie eine hochkohärente Elektronenquelle für eine schnelle Datenerfassung. Der separate Rückstreudetektor ist in der Lage, sowohl Oberflächentopographie als auch Elementaranalyse zu erhalten. PHILIPS XL 30 Sirion hat eine axiale Bewegung von 1200 mm, mit einer Submikron-Wiederholbarkeit für eine präzise Probenplatzierung in der Kammer. Es hat auch eine Hochvergrößerungslinse mit einem Arbeitsabstand von 5,5 mm, um eine Vielzahl von Probengrößen und -formen zu ermöglichen. Eine breite Sammlung von Probenhaltern ist verfügbar, um eine vollständige Palette von Probentypen unterzubringen. XL 30 Sirion ist einfach mit einer intuitiven Benutzeroberfläche zu bedienen und verfügt über automatisierte Funktionen, die eine schnelle Ausrichtung und Probenakzeptanz ermöglichen. Eine Vielzahl von bildgebenden Werkzeugen stehen zur Verfügung, um wertvolle Visualisierung von Daten zur Verfügung, darunter: vierdimensionale Tomographie, Dual-Beam-Imaging und EDS. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ideal für Anwendungen, die eine schnelle Bedienung, genaue Ergebnisse und erweiterte Bildgebungsfunktionen erfordern. Seine zuverlässige Leistung und effiziente Bedienung machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungs- und Diagnoseanwendungen.
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