Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9108125 zu verkaufen

PHILIPS / FEI XL 30 Sirion
ID: 9108125
Scanning electron microscope, 8"
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit modernster Oberflächenbildgebung und -analyse für Disziplinen in den Bereichen Materialwissenschaft, industrielle Qualitätskontrolle und Life Sciences. Dieses vielseitige SEM kombiniert eine innovative Technik, die sich durch hohe Auflösung und hohen Durchsatz mit einem zuverlässigen, einfach zu bedienenden Design auszeichnet. Sein einzigartiges Design ermöglicht erweiterte Tiefenschärfe Bildgebung, während seine automatisierte Bühne bietet die Möglichkeit, große Flächen ohne Unterbrechung zu erwerben. FEI XL 30 Sirion erzeugt Bilder von beispielloser Klarheit und Detailtreue mit einer seitlichen Auflösung von bis zu 0,9 nm und einer bildgebenden Auflösung von bis zu 70 nm. Es verfügt über eine Reihe von bildgebenden Modi, wie Backscatter-Imaging, das Next Generation EDS-System (für chemische Analyse), Low Vacuum Imaging und High-Angle ringförmiges Dunkelfeld (HAADF) für Kontrast- und Texturanalyse. Es verfügt auch über digitale Videofunktionen für die einmalige Abbildung von Prozessen. PHILIPS XL 30 Sirion verfügt über ein einzigartiges automatisiertes Beschleunigungssteuerungssystem (AAC), das eine optimale und wiederholbare Beschleunigungsleistung gewährleistet. Dadurch wird sichergestellt, dass die erhobenen Daten konsistent bleiben. Seine fortschrittlichen SE- und BSE-Detektoren können von 5-200 keV sammeln, mit niedrigen Geräuschpegeln und hoher Empfindlichkeit. XL 30 Sirion verfügt über eine automatisierte Stufe, die größere Flächenakquisitionen ohne Unterbrechung ermöglicht. Es kann in drei Dimensionen bewegt werden, bis zu 200 mm x 200 mm, und bietet auch diagonale Bewegungen für erweiterte Bereich kontinuierliche Bildgebung. Die vollautomatisierte Bilderfassungstechnologie richtet Bilder in mehreren Blickfeldern exakt aus, um einen Überblick über eine Probe oder Oberfläche zu geben. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein sehr vielseitiges und zuverlässiges SEM, das Anwendern beispiellose Klarheit, Detail und Konsistenz der Ergebnisse bietet. Dank seiner innovativen Eigenschaften und der erweiterten Bildtiefe ist es eine ideale Wahl für Anwendungen in den Bereichen Werkstoffwissenschaften, industrielle Qualitätskontrolle und Biowissenschaften.
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