Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9145946 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Analyse von Oberflächentopographie, Elementarzusammensetzung und chemischer Struktur und Teilchengröße verwendet wird. Es eignet sich für eine breite Palette von Proben, einschließlich nichtleitender und selbstleuchtender Materialien. Das Mikroskop ist mit einer Großfeld-Kaltfeld-Emissionskanone ausgestattet, die ein Sichtfeld von bis zu 6,2 mm Durchmesser und eine extrem hohe elementare Auflösung bietet. Der Strahlstrom ist bis zu 15 pA einstellbar, um eine optimale Abbildung auf den unterschiedlichsten Probentypen zu ermöglichen. Ein In-Linsen-Sekundärelektronendetektor bietet eine hohe Empfindlichkeit und ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis. FEI XL 30 Sirion hat einen hochauflösenden beweglichen Bühnenantrieb, der eine präzise Steuerung der Probenposition ermöglicht. Diese ist in einer temperaturgesteuerten und druckgesteuerten Kammer untergebracht. Die Kammer kann eine Reihe von Probenhaltern aufnehmen, so dass eine breite Palette von Materialien, einschließlich organischer Verbindungen, analysiert werden kann. Das Mikroskop verfügt außerdem über ein fortschrittliches automatisiertes Navigationssystem, mit dem Benutzer problemlos zwischen den bildgebenden Modi wechseln können. Die Navigation bietet eine automatische Sammlung einer Vielzahl von Bildern, einschließlich Neigung und Vergrößerungen Bilder mit Variationen in den Auflösungen. Mit den automatischen Funktionen können Oberflächentopographie, elementare Zusammensetzung, chemische Struktur und Partikelgröße untersucht werden. PHILIPS XL 30 Sirion kann auch für 3D-Rekonstruktion, Mikrobildgebung und Tiefenelementanalyse verwendet werden. Der 3D-Rekonstruktionsmodus ermöglicht die automatische Sammlung von Bildern in dreidimensionaler Form. Dadurch wird eine Detailansicht der Probenoberfläche in Echtzeit rekonstruiert. Der Mikro-Bildgebungsmodus verwendet hochauflösende und vergrößerte Bildgebung, um detaillierte Bilder von kleinen Proben zu erzeugen. Schließlich ermöglicht der elementare Tiefenanalysemodus die Identifizierung von Elementen in der Probe bis auf atomare Ebene. XL 30 Sirion ist ein fortschrittliches SEM mit hervorragenden Bildgebungsfunktionen. Das große Sichtfeld und der Sekundärelektronendetektor in der Linse ermöglichen eine schnelle und genaue Analyse, während das automatisierte Navigationssystem es Anwendern ermöglicht, problemlos zwischen den bildgebenden Modi zu wechseln. Dieses vielseitige System eignet sich für eine Reihe von Materialien und bietet hochauflösende Bildgebung, 3D-Rekonstruktionen und Elementaranalysen auf tiefer Ebene.