Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9283858 zu verkaufen
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ID: 9283858
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
Main body
Control table
SEM Control: Windows 2000 with Pentium 4
EDS Control (No Hard Disk Drive (HDD))
Rotary pump
HT Tank
Motorized stage system
Anti vibration pad
Detectors:
SE Detector
BSE Detector
EDS Detector
Chamber CCD camera.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in einer Vielzahl wissenschaftlicher und industrieller Forschungsanstrengungen weit verbreitet ist. Es verfügt über ein relativ großes Sichtfeld und einen leistungsstarken Vergrößerungsbereich, so dass es eine gute Wahl für detaillierte Analyse und Bildgebung. FEI XL 30 Sirion hat eine große Kammer mit einer 30 cm x 20 cm Betrachtungsfläche. Es kann Partikel bis zu einem Maximum von 300.000x vergrößern, so dass es in der Lage, eine hochauflösende Abbildung von extrem kleinen Strukturen zu erreichen. Das Objektiv verfügt über kurze und lange Arbeitswege, so dass es eine Vielzahl von Proben leicht abbilden kann. PHILIPS XL 30 Sirion ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, einschließlich eines Festkörperdetektors, eines Rückstreudetektors, eines Sekundärelektronendetektors und eines Röntgenenergiedispersiven Spektrometers. Dies ermöglicht die Erfassung von Bildern und Informationen auf einem unglaublichen Detailniveau. Das Instrument verfügt auch über eine Vielzahl von Kollimatorstufen, automatisierte Probenstufen und Beleuchtungstechniken. XL 30 Sirion wurde entwickelt, um eine überlegene Oberflächenanalyse anzubieten und damit teurere SEMs zu konkurrieren. Es verfügt über mehrere Emissionsquellen, einschließlich einer Kaltfeld-Emissionskanone, einer Thermionkanone und einem wolframhaltigen Filament, von denen jede leicht ausgeschaltet werden kann, so dass der Bediener eine Vielzahl von Bildern sammeln kann. Es hat auch die Fähigkeit, niedrige Vakuum-Abbildungsmodi zu verwenden, die die Abbildung einer Vielzahl von Probentypen ermöglichen. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist einfach zu bedienen und wartungsarm. Es verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche und verfügt über eine Vielzahl hilfreicher Funktionen, wie integrierte Tutorials und Live-Videoüberwachungssystem. Das Mikroskop ist so konzipiert, dass es kostengünstig gewartet wird, wobei der Benutzer wöchentlich routinemäßig wartet. Insgesamt ist FEI XL 30 Sirion eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die ein leistungsstarkes SEM mit einem großen Sichtfeld und hoher Vergrößerungsfähigkeit benötigen. Seine Reihe von Detektoren und Emissionsquellen, sowie seine Palette von erweiterten Funktionen, machen es eine gute Wahl für selbst die fortschrittlichste Analyse und Bildgebung.
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