Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9404297 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ein fortschrittliches bildgebendes Erlebnis bietet. Dieses SEM verfügt über ein Partikeloptikmodul mit einer Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle und einem umfangreichen Angebot an High-End-Bildgebungszubehör. FEI XL 30 Sirion gilt aufgrund seiner überlegenen Bildqualität und Auflösung als High-End-Instrument für SEM-Bildgebungs- und Analyseanwendungen. PHILIPS XL 30 Sirion verfügt über eine Elektronensäule mit variablem Druck (VP) mit einer einzigartigen „Pfeffertopf“ -Ionenlinse. Dieses innovative Design ermöglicht auch bei extrem hohen Vergrößerungen einen stabileren Elektronenstrahl und eine verbesserte Oberflächenempfindlichkeit. Die bildgebende Ausrüstung verwendet einen UltraVac, ein Multi-Mode-Vakuumsystem, das sowohl in ultra-hoher als auch in ultra-niedriger Auflösung arbeitet und eine Vielzahl von bildgebenden Modi bietet. Um die neuen Funktionen der VP-Säule und der UltraVac-Einheit zu nutzen, bietet XL 30 Sirion mehrere bildgebende Modi. PHILIPS/FEI XL 30 Sirion ist auch in der Lage, extrem hohe kristallographische Auflösung zu produzieren. Möglich wird dies durch die Kombination aus einem hochauflösenden (HR) Bildgebungsmodus und der neuen UltraVac Maschine. Der HR-Modus verfügt über eine maximale Spotgröße von 0,7 nm und eine Auflösung von bis zu 1 nm. Das UltraVac-Tool hilft, Strahlverzerrungen zu minimieren und ermöglicht HR-Bildgebung. Neben erweiterten Bildgebungsfunktionen bietet FEI XL 30 Sirion auch mehrere analytische Funktionen. Dazu gehören die energiedispersive Röntgen- (EDX) -Spektroskopie, die Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) und die energiefilterte Bildgebung (EFI). Mit den Funktionen EDX, EBSD und EFI können Anwender die Materialzusammensetzung identifizieren und die kristallographische Struktur und Orientierung verstehen. PHILIPS XL 30 Sirion kombiniert die neueste Technologie mit benutzerfreundlicher Bedienung, so dass es einfach zu bedienen. Sein robustes Design und seine zuverlässige Leistung machen es ideal für Forschung, Industrie und Bildungseinsatz. XL 30 Sirion ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das ein überlegenes bildgebendes Erlebnis bietet und erweiterte analytische Anwendungen ermöglicht.