Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #192152 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das entwickelt wurde, um die höchstauflösende Abbildung einer Probe zu ermöglichen. FEI XL 30 ist in der Lage, Bilder im Bereich von 0,2 Angström zu erfassen und zu analysieren, um sicherzustellen, dass auch die kleinsten Details enthüllt werden. Das In-Linsen-System ermöglicht eine Vielzahl von Probe-Oberfläche-Wechselwirkungen in Kombination mit einer Vielzahl von Elektronenstrahlen-Energien. Diese Elektronenstrahlen interagieren mit der Probe auf drei Arten: Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und Transmissionselektronen. Sekundärelektronen stammen von Probenoberflächen und enthalten oberflächentopographische Informationen. Rückgestreute Elektronen werden erzeugt, wenn hohe Masse, Hochgeschwindigkeitselektronen mit der Probe und Feststoff kollidieren und kristallographische und elementare Informationen enthalten. Die stark durchdringenden Transmissionselektronen sind von der Probe unbeeinflusst und dienen zum Nachweis von unterirdischen Phänomenen. Die Explorationsmöglichkeiten des Instruments werden durch variable Druck-SEM-Technologie und variable Druckdetektoren weiter verbessert. Der variable Druck SEM kann die Probenaufladung und Artefaktbildung in Biomaterialien, Polymeren und sogar Kunststoffproben zur Bildgebung und Analyse signifikant verringern oder sogar eliminieren, ohne leitfähige Beschichtungen zu benötigen. Variable Druckdetektoren ermöglichen die Analyse von Energie ausgewählter Elektronen, die von der Länge der Säule und in den Channeltrondetektor erzeugt und abgelenkt werden. Als analytisches Werkzeug ist PHILIPS XL30 in der Lage, SEM-Bilder, vergrößert bis zu 800.000x, mit einer Auflösung von 0,2 Angströmen, elementare Informationen mit Energie-Dispersive-Spektrometrie (EDS) -Mapping und Zeilenscannen zur Verfügung zu stellen. Neben der SEM-Bildgebung können PHILIPS/FEI- XL30 auch zum Erwärmen, Kühlen und Schneiden in die Probe verwendet werden, wodurch konfokale und 3D-Analysen möglich sind. Diese Fähigkeiten machen XL30 zu einem leistungsstarken Instrument zur Analyse und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien auf molekularer Ebene. XL 30 wurde entwickelt, um die höchstauflösende Bildgebungsleistung mit einem In-Objektiv-System bereitzustellen, um eine breite Palette von Interaktionen mit der Probe, SEM-Funktionen mit variablem Druck zur Reduzierung oder Eliminierung der Probenladung und detaillierte Analysefunktionen wie EDS-Mapping und Zeilenscanning bereitzustellen. Dies macht FEI XL30 ein unschätzbares Werkzeug für jedes Labor, das ein tiefes Verständnis der Zusammensetzung und Struktur einer Probe erlangen möchte.