Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293610605 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für überlegene Auflösung und Analyse entwickelt wurde. Es kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Proben zu untersuchen und hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu 160.000x. FEI XL 30 ist mit drei Elektronendetektoren ausgestattet, mit denen Benutzer eine Reihe von Probendaten analysieren können, einschließlich Zusammensetzung, Topographie und elementare Verteilung. Die integrierte digitale RGB-Mikroskopkamera ermöglicht die volldigitale Bildgebung und Beobachtung von Proben, und die Software-Suite verfügt über eine leistungsstarke Palette von analytischen Funktionen. Das vielseitige PHILIPS- XL30 besteht aus fünf Hauptkomponenten, die zusammen eine benutzerfreundliche Analyseausrüstung schaffen. Die Elektronenkanone besteht aus einem erhitzten Filament, das einen feinen Elektronenstrahl an die Probe sendet, und dieser wird durch das elektromagnetische Linsensystem gerichtet. Die Probe ist im Probenhalter montiert und von anderen Teilen der Mikroskopbauteile elektrisch isoliert. Der Elektronendetektor sammelt und zeigt dann Daten aus dem Strahl auf dem Display an. XL30 kann je nach Art der durchgeführten Analyse im Niedrig- oder Hochenergiebetrieb betrieben werden. Im Low-Energy-Modus bietet die Einheit eine hochauflösende Abbildung von Oberflächenstrukturen und Zusammensetzung sowie elementare Verteilung. Im Hochenergiemodus kann die Maschine verwendet werden, um Informationen über Oberflächentopographie und Schüttguteigenschaften zu erhalten. Das SEM-Tool ist mit Probenwechslern ausgestattet, die die Automatisierung von Probenlade- und Scanprozessen ermöglichen, und es ist mit einer modernen Benutzeroberfläche ausgestattet, mit der Benutzer schnell die für ihre Analyse erforderlichen Softwareeinstellungen erstellen und darauf zugreifen können. XL 30 bietet zudem umfassende Bildgebungs- und Analysefunktionen und bietet Anwendern ein umfassendes Spektrum an Funktionen. Die integrierte ImageJ-Software ermöglicht eine erweiterte Bildgebung sowohl im Hellfeld- als auch im Dunkelfeldmodus. Darüber hinaus verfügt FEI XL30 über eine Reihe leistungsfähiger Analysewerkzeuge, mit denen Probendaten wie EDS (energy dispersive Röntgenspektroskopie), WDS (wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie), SEM-Tomographie und automatisierte digitale Bildanalyse analysiert werden können. Insgesamt ist PHILIPS XL 30 ein fortschrittliches und leistungsstarkes SEM-Asset, das Forschern eine breite Palette von bildgebenden Tools und Analysefunktionen bietet. Es ist äußerst benutzerfreundlich und bietet eine Komplettlösung zur Visualisierung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen.