Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293618038 zu verkaufen

ID: 293618038
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das es Forschern und Wissenschaftlern ermöglicht, Informationen und Daten auf mikroskopischer Ebene zu sammeln. Es nutzt eine Vielzahl von Funktionen und Funktionen, um hochauflösende Bilder zu erzeugen und erweiterte Studien von Objektoberflächen zu ermöglichen. Die Einheit besteht aus einer Vielzahl von Komponenten, darunter eine Elektronenquelle, eine Abtaststeuerung, elektromagnetische Linsen, eine Probenvorbereitungskammer, eine digitale Abbildungsvorrichtung und ein Vakuumsystem. Die Elektronenquelle erzeugt einen Elektronenstrahl, der dann durch die magnetischen Linsen, gesteuert durch die Abtaststeuerung, auf verschiedene Weise manipuliert wird. Die niedrige Stromspannung, Elektronmikroskop scannend, berücksichtigt Bildaufbereitung von Musteroberflächen im Detail mit Beschlüssen mindestens Nanometer. Zur Positionierung der emittierten Elektronen zur genauen Oberflächenuntersuchung kann ein integrierter Mikromanipulator verwendet werden. Das Vakuumsystem hält die innere Umgebung der Maschine aufrecht, da ein Vakuum für den korrekten Betrieb der Anlage unerlässlich ist. Für die Probenvorbereitung bietet das Mikroskop in die Probenkammer integrierte Heiz- und Kühlstufen. Dies ermöglicht flexible Untersuchungen der Probe, einschließlich einer Vielzahl von Temperaturen und Drücken. Das digitale Abbildungsgerät ist in der Lage, Bilder sowohl der mikroskopischen als auch der makroskopischen Ebene zu erfassen. FEI XL 30 eignet sich für eine Reihe von Materialien und Oberflächen, darunter Metalle, Keramik, Kunststoffe und biologische Proben. Das Gerät ist klein, leicht, vielseitig und einfach zu bedienen. Damit können Forscher und Wissenschaftler kleine Proben genau und zuverlässig analysieren und dabei detaillierte Informationen zur Oberflächentopologie sammeln.
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