Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293636316 zu verkaufen

ID: 293636316
Scanning Electron Microscope (SEM) Detectors: SE, BSD Power supply: 30 kV.
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Bildgebung und Analyse im Nanoskalibereich verwendet wird. Es wird verwendet, um die Oberflächentopographie von Materialien und biologischen Proben in hoher Auflösung zu analysieren. Es verfügt über eine automatisierte Bühne mit einer Scanfläche von 200 x 350 mm und einen Fast Scan-Detektor für schnelle Bildgebung. Die Scanrate beträgt bis zu 500 Hz bei einer maximalen Auflösung von 1 nm/Pixel. Es ist auch mit einem niedrigen Vakuum-Modus für die Bildgebung von Proben ausgestattet, die weniger als 50 Pa.FEI XL 30 erfordern, verfügt über viele erweiterte Bildgebungsfunktionen. Es ist mit einem elektronenstrahlinduzierten Stromdetektor ausgestattet, der die elektrischen Eigenschaften des Materials misst. Es verfügt auch über ein energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX), das eine elementare Analyse von Probenoberflächen ermöglicht. Zusätzlich enthält es sowohl helle Feld- als auch Dunkelfelddetektoren zur Probencharakterisierung. Neben den bildgebenden Funktionen bietet PHILIPS XL30 auch viele erweiterte Analysefunktionen. Es ist mit einem Rückstreudetektor ausgestattet, mit dem die Dicke von Probenschichten gemessen werden kann. Die kombinierte elementare und strukturelle Analysefähigkeit liefert ein vollständiges Bild der Probenoberflächen. Es verfügt auch über erweiterte On-Axis-Elektronenholographie, die Stress und Dehnung in Materialien messen kann. Darüber hinaus weist XL 30 einen Ladungsneutralisierer auf, der eine durch Aufladung der Probe verursachte Bildverzerrung verhindert. Dies ermöglicht eine genaue Bildgebung und Analyse, auch mit Proben, die anfällig für Ladung sind. Es verfügt auch über eine integrierte kryogene Stufe für hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Temperaturen und einen spektroskopischen Detektor für detaillierte chemische Analyse. Insgesamt ist PHILIPS/FEI XL30 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe fortschrittlicher bildgebender und analytischer Funktionen. Es eignet sich ideal zur Charakterisierung von Materialien und biologischen Proben und bietet Forschern beispiellose Einsicht und Verständnis.
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