Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293643959 zu verkaufen

PHILIPS/FEI XL 30 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien und Strukturen entwickelt wurde. Dieses vielseitige Mikroskop eignet sich sowohl für die Bildgebung mit niedriger als auch hoher Vergrößerung und kann sowohl in der In-situ- als auch in der Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie eingesetzt werden. FEI XL 30 beinhaltet die FEG-Technologie (Field-Emission Gun) für maximale Leistung und Stabilität. Diese FEG-Quelle ermöglicht Elektronenstrahl-Ströme bis 2pA, so dass die Abbildung im Niederspannungs-Rasterelektronenmodus möglich ist. Die Hochstrom-FEG-Quelle ermöglicht auch eine erhöhte Abtastgeschwindigkeit und eine höhere Bildauflösung bei höheren Vergrößerungen. PHILIPS XL30 verfügt auch über eine große Kammerkapazität, die Proben bis zu einer Größe von 450 mm aufnehmen kann, und eine breite Palette von Probenorientierungen. Auf diese Weise kann das Mikroskop auch die anspruchsvollsten Proben analysieren. Darüber hinaus umfasst XL30 ein einzigartiges Autoload III-Probenladesystem und eine Reihe von bildgebenden Detektoren, einschließlich eines Szintillatordetektors zur optimierten Abbildung von hoch kontrastierenden Proben und eines Rückstreudetektors zur Abbildung nichtleitender Materialien. XL 30 kann auch im Umgebungs-SEM (ESEM) -Modus zur Bildgebung und Analyse von Proben betrieben werden, die nicht mit konventionellem SEM abgebildet werden können. Beim Betrieb im ESEM-Modus unterhält PHILIPS XL 30 eine saubere, stabile Vakuumumgebung und ermöglicht gleichzeitig die Aufrechterhaltung der Probe unter gasförmiger Atmosphäre. Dies ermöglicht die Abbildung von empfindlichen biologischen Proben wie Proben in Flüssigkeiten und Zellkulturen. Schließlich verfügt PHILIPS/FEI XL30 über eine Reihe leistungsfähiger Analysesoftware wie TelED, ein automatisiertes Bildanalysepaket zur Bildanalyse und interaktiven 3D-Visualisierung. Diese Software ist in der Lage, Funktionen wie Fläche, Umfang, Leitungsprofil und Volumen sowie integrierte Energiedispersive Spektroskopie (EDS) Fähigkeiten zu messen. FEI XL30 ist ein Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und Analyse unterschiedlichster Materialien und Strukturen. Das vielseitige Design, die FEG-Quelle und das Spektrum an Detektoren und Analysesoftware machen PHILIPS/FEI XL 30 zu einem idealen Werkzeug für eine Reihe von SEM- und ESEM-Anwendungen.