Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293644231 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
PHILIPS/FEI XL 30 ist ein fortschrittliches Elektronenmikroskop mit einer Feldemissionskanone zur Verwendung in der Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Das Mikroskop ist mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV und einer ständig verbesserten Fokustiefe und Auflösung ausgelegt, um eine detailliertere und genauere Untersuchung von Proben zu ermöglichen. Es arbeitet in drei Modi, darunter SEM, Low-kV STEM und High-kV STEM. Die Röntgenmikroanalyse-Fähigkeiten von FEI XL 30 ermöglichen eine SEM-basierte elementare Kartierung und Beschichtung. Mit einem Knopfdruck führt das Autofokussiersystem des Mikroskops eine schnelle und genaue Probenfokussierung mit minimalem Rauschen durch. PHILIPS XL30 ist mit einem Hochtemperaturmanipulator ausgestattet, der die Platzierung von Proben bei Drücken bis zu 50 Torr und Temperaturen bis zu 2000 ° C ermöglicht. Der Manipulator hilft, Probendrift zu reduzieren und macht die Probe berührungsresistenter zur Abtastsonde. Darüber hinaus verbessert es die bildgebende Qualität inhomogener Proben erheblich. Die große Kammer des Instruments ermöglicht die Befestigung einer Vielzahl von Detektoren, wie LENS (Lateral Electron focusing System), für 3D-Experimente, die eine Kombination aus niedriger und hochauflösender Bildgebung beinhalten. Darüber hinaus ist die Kammer mit Probenhaltern für die Morphologie und Phasenbildgebung sowie der Probenstufe ausgestattet, um eine spektroskopische und bildgebende Darstellung in verschiedenen Bestrahlungsmodi zu gewährleisten, einschließlich In-Vakuum, Hochvakuum und Ultrahochvakuum. FEI XL30 bietet sterile und isolierte Umgebungen, um Signalklarheit und Bildgenauigkeit zu maximieren. Das fortschrittliche Optiksystem bietet zudem eine verbesserte Empfindlichkeit und ein Signal-Rausch-Verhältnis. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer ergonomischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine intuitive Bedienung ermöglicht. Die Kombination seiner fortschrittlichen Eigenschaften, wie eine maximale Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV, ein Hochtemperaturmanipulator und eine große Kammer, machen XL30 zu einem idealen Werkzeug für eine Vielzahl von Mikroskopieaufgaben. Seine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche, zuverlässige Bildqualität und hohe Auflösung sind nur einige seiner Vorteile. Darüber hinaus ermöglichen die verschiedenen Detektoren und Probenhalter eine hochauflösende Bildgebung, Spektroskopie und 3D-Analyse, die sonst nicht möglich wäre.
Es liegen noch keine Bewertungen vor