Gebraucht PHILIPS / FEI XL 30 #293764144 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI XL 30 (SEM) ist ein fortschrittliches Werkzeug zur Abbildung verschiedener Oberflächenprozesse bis zum Nanometerspiegel. Es bietet überlegene Auflösungsbilder von Proben, die gereinigt, sputterbeschichtet oder weiterverarbeitet wurden, um sie sichtbar zu machen. Ein wesentliches Merkmal dieses Tools ist, dass es für den Einsatz in Industrie- und Forschungsumgebungen konzipiert ist und Flexibilität für verschiedene bildgebende Anwendungen bietet. Das Instrument kann eine Auflösung von Sub-Nanometern bei einer höheren Schärfentiefe erreichen. Es ist mit einem Hochleistungs-Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der eine klare Abbildung von Oberflächenmerkmalen ermöglicht. Die EDX-Funktion ermöglicht die Vollspektrum-Röntgenelementanalyse mit dem optionalen EUROSTEM II-Detektor. Die Verwendung dieses Detektors ermöglicht auch eine präzise Charakterisierung von Materialien wie elementare Zusammensetzung, Kristallinität und Gitterparameter. Die Funktionalität von FEI XL 30 wird durch den Rapid-Scan-Modus und die schnellen Ablenkspulen weiter verbessert. Dies ermöglicht ein Hochgeschwindigkeits-Scannen von Bereichen bis zu 10cm x 10cm in weniger als 8 Sekunden. Darüber hinaus kann das Instrument lange Scanzeiten reduzieren, wenn eine gleichzeitige Abbildung mehrerer Bereiche erforderlich ist. Eine der leistungsstärksten Funktionen von PHILIPS XL30 SEM ist die Möglichkeit, Daten aus einem großen Gebiet in kurzer Zeit zu sammeln. Die raffinierten mechanischen Geräte ermöglichen eine präzise Proben- und Bühnenbewegung sowie Hochgeschwindigkeitsbildgebung mit weitem Sichtfeld. Der Bereich der vom Mikroskop aufnehmbaren Probengrößen wird um den großen Arbeitsabstand weiter erweitert. XL30 SEM spielt auch eine wichtige Rolle in der fortschrittlichen Materialanalyse. Es ist mit einem EDS-Detektor ausgestattet, der Elementaranalysen am Rand der Funktionen ermöglicht und hochgenaue Ergebnisse mit einem hervorragenden Signal-Rausch-Verhältnis liefert. Darüber hinaus verfügt das Instrument über viele automatisierte Tools, wie automatisierte Kantenerkennung und -zählung, um eine effiziente, genaue Datenerfassung und -analyse zu ermöglichen. Zusammenfassend ist PHILIPS XL 30 SEM ein hochentwickeltes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse von Oberflächenprozessen bis zum Nanometerstand. Seine breite Palette von Funktionen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, Elementaranalyse, schnelles Mapping und automatisierte Funktionen, machen es zu einer idealen Wahl für Forschung und industrielle Anwendungen.